[发明专利]一种导电胶带接触电阻测试系统及测试方法有效

专利信息
申请号: 202111303877.4 申请日: 2021-11-05
公开(公告)号: CN113740612B 公开(公告)日: 2022-01-25
发明(设计)人: 李维佳;余艳萍;艾之深;谢海岩;张宏亮;陈良 申请(专利权)人: 成都佳驰电子科技股份有限公司
主分类号: G01R27/20 分类号: G01R27/20
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成都市郫都区成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 导电 胶带 接触 电阻 测试 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种导电胶带接触电阻测试系统,其特征在于,包括测试仪表、测试校准件、测试模块和挂件模块;

所述测试仪表为标准矢量网络分析仪,具备单端口测试功能,能够动态分析端口的S参数、阻抗参数;

所述测试校准件包括微带传输模块、标准校准件,所述微带传输模块具有与测试仪表端口耦合的第一端口和用于对系统进行单端口校准的第二端口,且所述第二端口能够与所述挂件模块耦合;

所述标准校准件为矢量网络分析仪标准机械校准件,包括开路校准件、短路校准件、50欧姆负载校准件中的至少一种;

所述测试模块的外形及结构尺寸与测试校准件中微带传输模块相同,都具有双端口;测试模块的微带传输线具有多个导体,相邻导体之间具有间隙,间隙边缘具有梳状结构;

所述测试模块具有与测试仪表耦合的第三端口,和能够与所述挂件模块耦合的第四端口;

所述挂件模块为单端口短路模块,所述短路模块能够形成高频电感;所述挂件模块的阻抗范围在谐振点以下。

2.根据权利要求1中所述的导电胶带接触电阻测试系统,其特征在于,所述微带传输模块为长度5cm至30cm长度的标准微带传输线;所述微带传输模块具有两个互易端口,一个端口连接测试仪表,另一个端口连接标准校准件。

3.根据权利要求1中所述的导电胶带接触电阻测试系统,其特征在于,所述间隙数量为1至10个。

4.根据权利要求1中所述的导电胶带接触电阻测试系统,其特征在于,所述微带传输模块的长度为20cm,宽度为6cm,厚度为1.6mm,底部铺铜,上部微带线宽度为6mm,介质板为FR4材质。

5.根据权利要求1中所述的导电胶带接触电阻测试系统,其特征在于,微带传输模块具有两个互易端口,采用内径3.5mm的SMA接头连接,一个端口接测试仪表,一个端口接标准校准件。

6.根据权利要求1中所述的导电胶带接触电阻测试系统,其特征在于,所述挂件模块为单端口短路模块,长度3cm,宽度6cm,厚度1.6mm,底部铺铜,上部微带线宽度6mm,微带线长度1.5cm,介质板为FR4材质,终端短路形成高频电感。

7.一种导电胶带接触电阻测试方法,其特征在于,利用权利要求1中所述的导电胶带接触电阻测试系统,包括以下步骤:

S1、系统校准:将测试仪表调试至待测频段内;将测试校准件中的微带传输模块的第一端口耦合至测试仪表端口;在测试校准件中的微带传输模块的第二端口对系统进行单端口校准;校准完毕后,测试校准件的微带传输模块的第二端口耦合至挂件模块,调出史密斯圆图曲线,并记录挂件模块阻抗参数数据;

S2、贴敷测试样品:将待测导电胶带贴敷至测试模块的间隙中;保证贴敷面与间隙边缘的梳状结构紧密连接;将测试模块一个端口耦合至测试仪表,另一端口耦合至校准时选择的挂件模块;

S3、参数测试:读取导电胶带的高频接触电阻参数数据。

8.根据权利要求7中所述的导电胶带接触电阻测试方法,其特征在于,所述史密斯圆图曲线的弧度小于等于π,并且在上半区。

9.根据权利要求7中所述的导电胶带接触电阻测试方法,其特征在于,所述待测导电胶带的外形尺寸大于等于测试模块的间隙尺寸。

10.根据权利要求7中所述的导电胶带接触电阻测试方法,其特征在于,所述导电胶带的高频接触电阻参数数据为挂件模块阻抗参数数据,或挂件模块阻抗参数数据减去校准时记录的挂件模块阻抗参数数据。

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