[发明专利]一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡及其使用方法

说明书

一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡，标记卡为多个色块组组成的长方体结构，每个色块组内具有多个不同颜色的色块。所述标记卡的使用方法，步骤S1：根据待检测试样的长度以及待检测试样上缺陷的长度，截取合适长度的标记卡并粘接粘在待检测试样上缺陷位置的一侧，使得标记卡的长方向沿着缺陷的长方向，标记卡的下端面与待检测试样的磨抛面平行；步骤S2：记录缺陷的下端以及上端位置所对应的色块颜色；步骤S3：将粘接好标记卡的待检测试样进行镶嵌，得到镶嵌试样；步骤S4：对镶嵌试样进行磨抛，当磨抛至标记卡显示缺陷下端对应的色块的颜色时，则磨抛临近缺陷；若磨抛至标记卡显示缺陷上端对应的色块的颜色时，则缺陷即将磨抛到末端。

技术领域

本发明涉及理化性能检测技术领域，尤其涉及一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡及其使用方法。

背景技术

在理化性能检测中，部分试样由于形状不规则，为了将样品固定或使样品形状标准化，磨抛金相试样之前要先进行镶嵌。

金相试样镶嵌包括热镶嵌和冷镶嵌。热镶嵌过程一般是先将试样放置在镶嵌筒内，再往镶嵌筒内倒入镶嵌粉将试样掩埋，然后加压加热让树脂玻璃化与试样合为一体的过程。常用的热镶嵌料粉有酚醛树脂、丙烯酸树脂、环氧树脂等，一般热镶嵌料是不透光的，镶嵌完毕后的样品除了磨抛面无法观测到内部试样的状态。冷镶嵌常见的是使用双组分混合的常温固化树脂与功能性填充物的混合物，这种混合物凝固后虽然具备较高的透光率，但是由于光的折射以及磨制过程中难以避免的损伤及污染，对于试样上细窄的缺陷同样无法准确观测。

金相镶嵌试样重点位置观测，传统磨抛方法及标记工具需要游标卡尺等辅助工具对磨抛深度进行判定。此外，传统标记工具如矩形金属片，等边三角形金属片等，需要使用游标卡尺测量，然后通过几何关系计算出试样磨抛深度。传统磨抛方法和标记工具，由于需要通过测量和几何关系换算得出试样磨抛深度，满足这些换算关系的前提是磨抛面处于同一水平状态，对试样磨抛面的平整度要求极高，如果制样者技术或经验欠缺，导致磨抛面倾斜较重，传统方法或标记工具换算出的磨抛深度值会严重偏离实际值，导致试验失败。传统标记工具都为金属材质，制造工艺相对较难，成本较高。而且金属材质由于硬度及耐磨性较高，增加了制样磨抛过程的难度。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡及其使用方法，旨在解决上述技术问题。

为实现上述目的，本发明提出一种标记金相镶嵌试样位置的标记卡，所述标记卡为多个色块组组成的长方体结构，每个色块组内具有多个不同颜色的色块。

优选的，所述色块的材质为聚苯硫醚(PPS)。

优选的，每个色块组内具有五个色块，从左至右颜色为白色、浅红、浅绿、浅黄、浅蓝。

优选的，所述色块为边长1mm的立方体结构。

优选的，标记卡的其中一长侧面为粘接面，在粘接面上设置有涂覆有粘接胶。

优选的，在所述粘接面上覆盖有胶布纸。

优选的，在粘接面上涂覆有粘接胶为环氧树脂胶、丙烯酸胶或热硫化胶。

优选的，标记卡上具有五个色块组。

本发明还提供了一种上述标记金相镶嵌试样位置的标记卡的使用方法，包括以下步骤：

步骤S1：根据待检测试样的长度以及待检测试样上缺陷的长度，截取合适长度的标记卡并粘接粘在待检测试样上缺陷位置的一侧，使得标记卡的长方向沿着缺陷的长方向，标记卡的下端面与待检测试样的磨抛面平行；

步骤S2：记录缺陷的下端以及上端位置所对应的色块颜色；

步骤S3：将粘接好标记卡的待检测试样进行镶嵌，得到镶嵌试样；