[发明专利]一种烹饪箱清洁度预估方法、装置及设备在审

专利信息
申请号: 202111384670.4 申请日: 2021-11-19
公开(公告)号: CN113901674A 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 张晨曦 申请(专利权)人: 北京红岸水滴科技发展有限公司
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G16C20/10
代理公司: 北京润捷智诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11831 代理人: 安利霞
地址: 100089 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 烹饪 清洁 预估 方法 装置 设备
【权利要求书】:

1.一种烹饪箱清洁度预估方法,其特征在于,包括:

获取在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率;

根据所述在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率,得到烹饪箱内膛的累计污垢度;

根据所述累计污垢度,得到烹饪箱内膛的清洁度预估值。

2.根据权利要求1所述的烹饪箱清洁度预估方法,其特征在于,获取在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率,包括:

估算烹饪箱内膛的三组烹饪温度以及所述烹饪温度对应的污染物产生速率;

根据所述三组烹饪温度以及所述烹饪温度对应的污染物产生速率,得到在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率。

3.根据权利要求2所述的烹饪箱清洁度预估方法,其特征在于,根据所述三组烹饪温度以及所述烹饪温度对应的污染物产生速率,得到在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率,包括:

根据所述三组烹饪温度以及所述烹饪温度对应的污染物产生速率,确定第一反应速率参数、第二反应速率参数以及第三反应速率参数;

根据所述第一反应速率参数、第二反应速率参数以及第三反应速率参数,通过公式K(T)=a·Tb+c得到在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率;其中,a为第一反应速率参数,b为第二反应速率参数,c为第三反应速率参数,T为烹饪温度,K(T)为烹饪温度对应的污染物产生速率。

4.根据权利要求1所述的烹饪箱清洁度预估方法,其特征在于,根据所述在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率,得到烹饪箱内膛的累计污垢度,包括:

根据所述在任意烹饪温度下的烹饪箱的污染物产生速率,得到不同烹饪温度下的烹饪箱内膛在第一时刻的第一累计污垢度;

通过公式V(T,Δt)=Vlast+K(T)·Δt,得到不同烹饪温度下的烹饪箱内膛在第二时刻的第二累计污垢度;其中,V(T,Δt)为第二累计污垢度,Vlast为第一累计污垢度,K(T)为烹饪温度为T对应的污染物产生速率,Δt为第一时刻到第二时刻之间的时间段。

5.根据权利要求4所述的烹饪箱清洁度预估方法,其特征在于,根据所述累计污垢度,得到烹饪箱内膛的清洁度预估值,包括:

根据所述累计污垢度,得到所述不同烹饪温度下达到预设累计污垢度的时间;

对所述不同烹饪温度下达到预设累计污垢度的时间和累计污垢度的关系进行拟合处理,得到烹饪箱内膛的清洁度预估值。

6.根据权利要求5所述的烹饪箱清洁度预估方法,其特征在于,对所述不同烹饪温度下达到预设累计污垢度的时间和累计污垢度的关系进行拟合处理,得到烹饪箱内膛的清洁度预估值,包括:

对所述不同烹饪温度下达到预设累计污垢度的时间和累计污垢度的关系进行拟合处理,得到拟合后的烹饪箱内膛的清洁度预估值为

其中,C(V)为烹饪箱内膛的清洁度预估值,d为第一清洁度预估参数,V为第二累计污垢度,e为第二清洁度预估参数。

7.根据权利要求1所述的烹饪箱清洁度预估方法,其特征在于,还包括:

根据所述烹饪箱内膛的清洁度预估值和预设范围,确定所述烹饪箱内膛的清洁度等级。

8.一种烹饪箱清洁度预估装置,其特征在于,所述装置包括:

获取模块,用于获取在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率;

处理模块,用于根据所述在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率,得到烹饪箱内膛的累计污垢度;根据所述累计污垢度,得到烹饪箱内膛的清洁度预估值。

9.一种计算设备,包括:处理器、存储器、通信接口和通信总线,所述处理器、所述存储器和所述通信接口通过所述通信总线完成相互间的通信;

所述存储器用于存放至少一可执行指令,所述可执行指令使所述处理器执行如权利要求1-7中任一项所述的烹饪箱内膛的清洁度预估方法对应的操作。

10.一种计算机存储介质,所述存储介质中存储有至少一可执行指令,所述可执行指令使处理器执行如权利要求1-7中任一项所述的烹饪箱内膛的清洁度预估方法对应的操作。

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