[发明专利]一种烹饪箱清洁度预估方法、装置及设备

说明书

本发明的实施例提供一种烹饪箱清洁度预估方法、装置及设备，所述方法包括：获取在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率；根据所述在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率，得到烹饪箱内膛的累计污垢度；根据所述累计污垢度，得到烹饪箱内膛的清洁度预估值。本发明的实施例减少了对烹饪箱清洁度监测的生产成本和后期维护成本，提高了设备的自洁效率，延长了设备的使用寿命，提高了导热效率。

技术领域

本发明涉及烹饪箱设备技术领域，特别是指一种烹饪箱清洁度预估方法、装置及设备。

背景技术

烹饪箱是现如今很多家庭必备的厨房用具，家用烹饪箱的用户对其使用频率通常不会很高，且由于家用烹饪箱的结构较小，因此清洁起来较为方便；但在商用领域，商用烹饪箱的尺寸通常较大，且每天会持续工作十几个小时。这个过程中，会产生大量的污垢，商用烹饪箱的用户可能会因为懒于启动清洁程序或无法正确地判断烹饪箱内膛的干净程度而导致清洁不到位，内膛污垢会产生大量污染物，影响食品安全，同时会加速设备老化，影响导热效率。

发明内容

本发明提供了一种烹饪箱清洁度预估方法、装置及设备。减少了对烹饪箱清洁度监测的生产成本和后期维护成本，提高了设备的自洁效率，延长了设备的使用寿命，提高了导热效率。

为解决上述技术问题，本发明的实施例提供以下方案：

一种烹饪箱清洁度预估方法，包括：

获取在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率；

根据所述在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率，得到烹饪箱内膛的累计污垢度；

根据所述累计污垢度，得到烹饪箱内膛的清洁度预估值。

可选的，获取在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率，包括：

估算烹饪箱内膛的三组烹饪温度以及所述烹饪温度对应的污染物产生速率；

根据所述三组烹饪温度以及所述烹饪温度对应的污染物产生速率，得到在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率。

可选的，根据所述三组烹饪温度以及所述烹饪温度对应的污染物产生速率，得到在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率，包括：

根据所述三组烹饪温度以及所述烹饪温度对应的污染物产生速率，确定第一反应速率参数、第二反应速率参数以及第三反应速率参数；

根据所述第一反应速率参数、第二反应速率参数以及第三反应速率参数，通过公式K(T)＝a·T^b+c得到在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率；其中，a为第一反应速率参数，b为第二反应速率参数，c为第三反应速率参数，T为烹饪温度，K(T)为烹饪温度对应的污染物产生速率。

可选的，根据所述在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率，得到烹饪箱内膛的累计污垢度，包括：

根据所述在任意烹饪温度下的烹饪箱内膛的污染物产生速率，得到不同烹饪温度下的烹饪箱内膛在第一时刻的第一累计污垢度；

通过公式V(T,Δt)＝V_last+K(T)·Δt，得到不同烹饪温度下的烹饪箱内膛在第二时刻的第二累计污垢度；其中，V(T,Δt)为第二累计污垢度，V_last为第一累计污垢度，K(T)为烹饪温度为T对应的污染物产生速率，Δt为第一时刻到第二时刻之间的时间段。

可选的，根据所述累计污垢度，得到烹饪箱内膛的清洁度预估值，包括：

根据所述累计污垢度，得到所述不同烹饪温度下达到预设累计污垢度的时间；

对所述不同烹饪温度下达到预设累计污垢度的时间和累计污垢度的关系进行拟合处理，得到烹饪箱内膛的清洁度预估值。