[发明专利]一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路在审

专利信息
申请号: 202111449125.9 申请日: 2021-11-30
公开(公告)号: CN114236347A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 王贺;屈若媛;张红旗;张大宇;唐章东;王征;宁永成;张松;崔华楠;李健焘;吉美宁;梁培哲 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 任林冲
地址: 100194 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 典型 功耗 分析 集成电路 保留 指令 测试 电路
【权利要求书】:

1.一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路,其特征在于,包括计算机、测试机、采样元件、调理电路、功耗采集单元和被测电路;

测试机包括:数字通道A、直流源、数字通道B和GND/DGS;

功耗采集单元包括2路采集通道:通道A和通道B,两通道公用一路参考端;

被测电路包括:电源端口VCC、指令集输入总线I/O和地端口GND;

计算机通过总线A与测试机相连,通过总线B与功耗采集单元相连;

测试机的数字通道A连到功耗采集单元通道A;测试机的直流源连到采样元件前端;测试机的数字通道B连到被测电路的I/O端口;测试机的GND/DGS连到被测电路的GND端口;

采样元件后端与被测电路VCC以及调理电路输入端口相连;

调理电路的输出端口,连到功耗采集单元的通道B;

功耗采集单元的参考端连到被测电路的GND端口。

2.根据权利要求1所述的一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路,其特征在于,计算机可以通过总线A,对测试机的数字通道A、直流源和数字通道B的参数进行设置,并控制其工作状态。

3.根据权利要求1所述的一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路,其特征在于,计算机可以通过总线B,对功耗采集单元的触发通道、触发电平,触发方式、采样通道、采样速率、采样幅值范围、波形存储方式、位置参数进行设置,并控制功耗采集单元的工作状态。

4.根据权利要求1所述的一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路,其特征在于,测试机通过直流源为被测电路供电,直流源输出的幅值范围和最大输出电流值由计算机设定。

5.根据权利要求1所述的一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路,其特征在于,测试机的数字通道A和数字通道B均具有时域反射测量与补偿功能,测试机输出信号达到功耗采集单元通道A和被测电路I/O的时序误差低于100ps。

6.根据权利要求1所述的一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路,其特征在于,测试机的直流源输出应为开尔文接口,其Force与Sense端均独立连接到采样元件前端,保证采样元件前端的电压准确性。

7.根据权利要求1所述的一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路,其特征在于,测试机通过数字通道A向功耗采集单元的通道A发送功耗采集触发信号;数字通道A的输出电压标准、数据内容、数据格式和数据速率由计算机设定。

8.根据权利要求1所述的一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路,其特征在于,测试机可通过数字通道B对被测电路I/O进行接触性测试,数字通道B工作在加流测压工作模式、施加电流范围和测量电压范围由计算机设定。

测试机可通过数字通道B对被测电路进行黑盒测试,数字通道B工作在数字向量图形测试模式,数字通道B的总线宽度、电平标准、向量长度、向量内容、向量格式和测试速率均可由计算机设定。

9.根据权利要求1所述的一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路,其特征在于,调理电路为增益可调的有源电路,可对被测电路的功耗信号进行放大和滤波。

10.根据权利要求1所述的一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路,其特征在于,功耗采集单元可以按照指令集条目,对功耗波形进行顺序存储,存储指令集遍历时产生的全部功耗波形。

11.根据权利要求1所述的一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路,其特征在于,计算机对功耗波形进行批量一致性分析,筛选出造成电路功耗异常波动的指令集。

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