[发明专利]光轴平行性检测方法在审

专利信息
申请号: 202111462695.1 申请日: 2021-12-02
公开(公告)号: CN114166476A 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 马文家;王志乾;刘玉生;韩岩;王旻;李建荣;刘畅 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 代理人: 郭婷
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 光轴 平行 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种光轴平行性检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、预安装步骤:

S101、将自准直光管与平行光源的出射光准直;

S102、在所述自准直光管和所述平行光源之间放置折光元件并确定所述折光元件的位置;

S103、在所述自准直光管和所述折光元件之间放置折转光管;

S2、对所述折转光管进行检测:

所述平行光源出射的光束通过所述折转光管后进入所述折光元件,所述光束经过折光元件的折转后进入所述自准直光管中,此时所述自准直光管测得折转光管的光轴平行性误差Δα与Δβ;

当所述Δα和所述Δβ为零值时,表明所述折转光管在水平方向和竖直方向都不存在平行性误差。

2.根据权利要求1所述的光轴平行性检测方法,其特征在于,所述折光元件为五棱镜或平面反射镜。

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