[发明专利]光轴平行性检测方法在审
申请号: | 202111462695.1 | 申请日: | 2021-12-02 |
公开(公告)号: | CN114166476A | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 马文家;王志乾;刘玉生;韩岩;王旻;李建荣;刘畅 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人: | 郭婷 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光轴 平行 检测 方法 | ||
本发明提供一种光轴平行性检测方法,包括以下步骤:S1、预安装步骤:S101、将自准直光管与平行光源的出射光准直;S102、在自准直光管和平行光源之间放置折光元件并确定折光元件的位置;S103、在自准直光管和折光元件之间放置折转光管;S2、对折转光管进行检测:平行光源出射的光束通过折转光管后进入折光元件,光束经过折光元件的折转后进入自准直光管中,此时自准直光管测得折转光管的光轴平行性误差Δα与Δβ;当Δα和Δβ为零值时,表明折转光管在水平方向和竖直方向都不存在平行性误差。通过五棱镜与折转光管相配合的方式,在不使用平面镜作为检测工具的情况下进行平行性的检测,提高了检测的适用性。
技术领域
本发明涉及光学检测技术领域,特别涉及一种光轴平行性检测方法。
背景技术
折转光管作为一种光线折转装置,在光学系统内的应用越来越广泛,现已成为一种典型的光学设备。在使用时通常对折转光管的精度,也即折转光管中两块反射镜相对安装位置导致的折转光管的光轴平行性误差有很高的要求,因此对于折转光管光轴平行性误差的检测十分重要。目前来说,对于折转光管光轴平行性误差,通常采用平面镜反射法进行检测。需要一台自准直仪以及一个尺寸大于折转光管光轴间距的平面镜。将自准直仪与平面镜自准直后,读取自准直仪的水平读数α0与高低读数β0。读取后保持自准直仪与平面镜不变的情况下,在两者之间摆放折转光管并调整摆放位置,使自准直1的入射光保持全口径进入折转光管并折转到平面镜后返回自准直仪中。读取此时自准直仪1的水平读数α与高低读数β。则折转光管的光轴平行性误差为:
水平误差:Δα=α-α0
高低误差:Δβ=β-β0
现有折转光管光轴平行性检测方法必须使用比折转光管光轴间距更长的平面镜进行检测,在平面镜无法满足要求条件下无法检测折转光管光轴平行性。
发明内容
鉴于上述问题,本发明的目的是提出一种光轴平行性检测方法,通过五棱镜与折转光管相配合的方式,在不使用平面镜作为检测工具的情况下进行平行性的检测,提高了检测的适用性。
为实现上述目的,本发明采用以下具体技术方案:
本发明提供一种光轴平行性检测方法,包括以下步骤:
S1、预安装步骤:
S101、将自准直光管与平行光源的出射光准直;
S102、在自准直光管和平行光源之间放置折光元件并确定折光元件的位置;
S103、在自准直光管和折光元件之间放置折转光管;
S2、对折转光管进行检测:
平行光源出射的光束通过折转光管后进入折光元件,光束经过折光元件的折转后进入自准直光管中,此时自准直光管测得折转光管的光轴平行性误差Δα与Δβ;
当Δα和Δβ为零值时,表明折转光管在水平方向和竖直方向都不存在平行性误差。
优选地,折光元件为五棱镜或平面反射镜。
与现有的折转光管光轴平行性检测方法相比,本发明通过折光元件与折转光管相配合的方式,在不使用平面镜作为检测工具的情况下进行平行性的检测,提高了检测的适用性。
附图说明
图1是根据本发明实施例提供的光轴平行性检测方法的流程图。
图2是根据本发明实施例提供的光轴平行性检测方法的光路准直示意图。
图3是根据本发明实施例提供的光轴平行性检测方法进行检测时的光路示意图。
其中的附图标记包括:自准直光管1、折光元件2、平行光源3和折转光管4。
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