[发明专利]一种芯片测试方法、系统和可读存储介质

权利要求书

1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：

开启控制终端的主控程序以及测试终端的外部启动程序；

所述外部启动程序获取至少一个待测芯片通道对应的芯片通道编码，所述待测芯片通道具有对应的测试程序，以基于所述测试程序实现所述待测芯片通道对应的芯片的测试；

其中，所述测试程序具有进程控制编码及测试地址编码，且所述测试程序还具有对应的测试盒的测试通道编码，所述测试终端中记录有所述测试程序；

所述外部启动程序基于所述进程控制编码启动对应的所述测试程序；

所述外部启动程序记录所述测试程序对应的所述进程控制编码，并至少将对应的所述测试通道编码发送至所述测试程序；

所述测试程序基于所述测试通道编码选定对应的所述测试盒，以实现所述芯片通道编码、所述进程控制编码、所述测试地址编码及所述测试通道编码的匹配；

所述主控程序获取所述测试程序提供的所述测试地址编码，以识别对应的所述测试程序并与所述测试程序独立通讯。

2.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述外部启动程序获取至少两个待测芯片通道对应的芯片通道编码，所述主控程序获取各个所述测试程序提供的所述测试地址编码，以识别对应的所述测试程序并与各所述测试程序独立通讯。

3.如权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述外部启动程序将所述测试通道编码发送至所述测试程序时还同时发送所述测试地址编码。

4.如权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述测试程序与所述主控程序的通讯方式包括TCP/IP协议；和/或，不同的所述测试程序采用相同IP和/或相同端口号与所述主控程序进行通讯。

5.如权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述主控程序获取各个所述测试地址编码之后，还包括步骤：建立与所述芯片通道编码、所述进程控制编码、所述测试地址编码及所述测试通道编码关联的套接字以实现交互通讯。

6.如权利要求5所述的芯片测试方法，其特征在于，所述主控程序在与所述测试程序连接成功后还包括输出连接成功提示的步骤，输出所述连接成功提示的方式包括：在所述控制终端的界面对应所述芯片通道编号的控件进行显示。

7.如权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

所述测试程序对所述待测芯片测试前建立对应的测试场景，所述测试场景包括寄存器配置参数、光源设定值、图像获取方式以及测试算法中的至少一种。

8.如权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述主控程序与各所述测试程序独立通讯连接后，每一所述待测芯片通道对应的所述测试程序具有对应的若干个请求光源值，当所有所述待测芯片通道对应的所述请求光源值均相同时，所述主控程序控制光源模块提供相应的光源值，以进行对应的所述待测芯片通道的对应的测试场景下的测试。

9.如权利要求8所述的芯片测试方法，其特征在于，前一测试场景与后一测试场景的所述请求光源值一致时，则所述后一测试场景下的每一所述待测芯片通道对应的所述测试程序不重新请求所述请求光源值。

10.如权利要求8所述的芯片测试方法，其特征在于，所述主控程序控制所述光源模块提供相应的所述光源值后还包括步骤：向每个准备进行测试的所述待测芯片通道对应的所述测试程序发送光源设定成功的信息，以进行所述待测芯片通道的测试。

11.如权利要求1-10任一项所述的芯片测试方法，其特征在于，所述主控程序与各所述测试程序独立通讯连接后，还包括与测试机台建立通讯的步骤。