[发明专利]针对大长细比构造物的变形测量方法、电子设备及介质

权利要求书

1.一种针对大长细比构造物的变形测量方法，其特征在于，包括：

在被测构造物与测量弯曲变形的同方向侧面设置多个应变传感器；

确定所述应变传感器与所述被测目标的中轴线的距离；

建立应变和变形的表达式；

根据所述应变传感器的数据，建立测量矩阵；

根据所述表达式与所述测量矩阵，计算每一个应变传感器位置的变形。

2.根据权利要求1所述的针对大长细比构造物的变形测量方法，其中，在所述被测构造物上与测量弯曲变形的同方向侧面等间距设粘贴多个应变传感器。

3.根据权利要求2所述的针对大长细比构造物的变形测量方法，其中，所述应变和变形的表达式为n×n的矩阵，其中，n为所述应变传感器的数量。

4.根据权利要求3所述的针对大长细比构造物的变形测量方法，其中，对于所述应变和变形的表达式的第k行，其第k列的值为1，第k+1列的值为-2，第k+2列的值为1，其余的值为0，其中，k≤n-2。

5.根据权利要求3所述的针对大长细比构造物的变形测量方法，其中，根据所述被测构造物变形为0处对应的应变传感器的序号确定所述应变和变形的表达式的第n-1、n行的值。

6.根据权利要求5所述的针对大长细比构造物的变形测量方法，其中，若所述被测构造物仅有一个应变传感器对应位置的变形值为0，其序号为m，m≤n-2，则将应变和变形的表达式的第n-1行、第m列与第m+2列的值分别置为1与-1，将第n行、第m+1列的值置为1，其余的值为0。

7.根据权利要求5所述的针对大长细比构造物的变形测量方法，其中，若所述被测构造物有两个应变传感器对应位置的变形值为0，其序号为p、q，p＜q，则将应变和变形的表达式的第n-1行、第p列与第n行、第q列的值分别置为1，其余的值为0。

8.根据权利要求2所述的针对大长细比构造物的变形测量方法，其中，通过公式(1)计算每一个应变传感器位置的变形：

V＝T^-1Ф (1)

其中，V为变形矩阵，v_i为第i个应变传感器位置的变形，T为应变和变形的表达式，Ф为测量矩阵，a_i为第i个应变传感器的数据，L为应变传感器之间的间隔，ε_i为第i个应变传感器的测量值，y_i为第i个应变传感器距离中轴线的距离。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

存储器，存储有可执行指令；

处理器，所述处理器运行所述存储器中的所述可执行指令，以实现权利要求1-8中任一项所述的针对大长细比构造物的变形测量方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-8中任一项所述的针对大长细比构造物的变形测量方法。