[发明专利]针对大长细比构造物的变形测量方法、电子设备及介质

说明书

本申请公开了一种针对大长细比构造物的变形测量方法、电子设备及介质。该方法可以包括：在被测构造物与测量弯曲变形的同方向侧面设置多个应变传感器；确定应变传感器与被测目标的中轴线的距离；建立应变和变形的表达式；根据应变传感器的数据，建立测量矩阵；根据表达式与测量矩阵，计算每一个应变传感器位置的变形。本发明通过测量应变，并对应变数据处理，可以得到高准确度的弯曲变形。

技术领域

本发明涉及工程测量领域，更具体地，涉及一种针对大长细比构造物的变形测量方法、电子设备及介质。

背景技术

大长细比的构造物越来越多，例如无人机，大跨度桥梁，高耸建筑、塔架等。通过变形监测构造物的力学性能是一个比较好的选项，但是在某些场景直接测量变形非常困难。

因此，有必要开发一种针对大长细比构造物的变形测量方法、电子设备及介质。

公开于本发明背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本发明的一般背景技术的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。

发明内容

本发明提出了一种针对大长细比构造物的变形测量方法、电子设备及介质，其能够通过测量应变，并对应变数据处理，可以得到高准确度的弯曲变形。

第一方面，本公开实施例提供了一种针对大长细比构造物的变形测量方法，包括：

在被测构造物与测量弯曲变形的同方向侧面设置多个应变传感器；

确定所述应变传感器与所述被测目标的中轴线的距离；

建立应变和变形的表达式；

根据所述应变传感器的数据，建立测量矩阵；

根据所述表达式与所述测量矩阵，计算每一个应变传感器位置的变形。

优选地，在所述被测构造物上与测量弯曲变形的同方向侧面等间距设粘贴多个应变传感器。

优选地，所述应变和变形的表达式为n×n的矩阵，其中，n为所述应变传感器的数量。

优选地，对于所述应变和变形的表达式的第k行，其第k列的值为1，第k+1列的值为-2，第k+2列的值为1，其余的值为0，其中，k≤n-2。

优选地，根据所述被测构造物变形为0处对应的应变传感器的序号确定所述应变和变形的表达式的第n-1、n行的值。

优选地，若所述被测构造物仅有一个应变传感器对应位置的变形值为0，其序号为m，m≤n-2，则将应变和变形的表达式的第n-1行、第m列与第m+2列的值分别置为1与-1，将第n行、第m+1列的值置为1，其余的值为0。

优选地，若所述被测构造物有两个应变传感器对应位置的变形值为0，其序号为p、q，p＜q，则将应变和变形的表达式的第n-1行、第p列与第n行、第q列的值分别置为1，其余的值为0。

优选地，通过公式(1)计算每一个应变传感器位置的变形：

V＝T^-1Ф (1)

其中，V为变形矩阵，v_i为第i个应变传感器位置的变形，T为应变和变形的表达式，Ф为测量矩阵，a_i为第i个应变传感器的数据，L为应变传感器之间的间隔，ε_i为第i个应变传感器的测量值，y_i为第i个应变传感器距离中轴线的距离。

作为本公开实施例的一种具体实现方式，

第二方面，本公开实施例还提供了一种电子设备，该电子设备包括：

存储器，存储有可执行指令；