[发明专利]存内计算装置、芯片及电子设备在审

专利信息
申请号: 202111665757.9 申请日: 2021-12-31
公开(公告)号: CN114298297A 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 李学清;唐文骏;刘家隆;蒋琛;刘勇攀;杨华中 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06N3/063 分类号: G06N3/063;G11C11/54;G11C5/06
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 计算 装置 芯片 电子设备
【说明书】:

本公开涉及一种存内计算装置、芯片及电子设备,所述装置包括:存算阵列,包括至少一个存内计算单元,所述存内计算单元包括第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、耦合电容、第一位线、第二位线、第三位线、第一字线、第二字线及第三字线;控制模块,连接于所述存算阵列,用于控制各个字线、各个位线的电压状态,以通过所述存算阵列读写数据,或进行存内计算。本公开实施例通过将第一开关、第二开关和第三开关、第四开关设置为差分的形式,通过第二开关、第三开关的两个端口之间电压的差值确定存储值,可以实现高精度、低电路复杂度、高能效的存内计算,且具有较长的数据保持时间,数据刷新开销小,具有高可靠性的特点。

技术领域

本公开涉及集成电路技术领域,尤其涉及一种存内计算装置、芯片及电子设备。

背景技术

面对新兴的神经网络等数据密集型应用,传统冯诺依曼架构分立的存储与处理模块间日益庞大的数据传输量,成为系统性能的一大瓶颈问题,亟需以数据为中心的处理架构新思路。存内计算(Computing-in-Memory,CiM)是解决该“存储墙”瓶颈的有效解决方法,其将部分数据处理过程,如矩阵运算的乘累加,作为模拟计算直接放入存储器中进行,大幅减少需要传输的数据量的同时,也实现了高能效、高并行度的计算。

例如,相关技术中有利用电流源放电方式计算的相关技术,由于是给预充电压动态放电,可以达到较好的能效,但相同情况下(每个单元的电容相同)的能效还是略低;并且由于输入是通过不同的输入脉宽给定,是动态控制,时序上的控制要求及复杂度比较高;此外比较依赖于晶体管的输出特性,对晶体管的偏差及不稳定性不太鲁棒(参考P.Houshmandet al.,Opportunities and Limitations of Emerging Analog in-Memory ComputeDNN Architectures,2020 IEEE International Electron Devices Meeting(IEDM),2020,pp.29.1.1-29.1.4.),相关技术还有利用晶体管饱和区电流特性计算的相关技术,由于是使用直流电流计算,能效会比较低,并且需要分两个周期算完、单元电路及周边电路设计都比较复杂,同时也比较依赖于晶体管的特性(参考Yoshiyuki Kurokawa et al.,CAAC-IGZO FET/Si-FET hybrid structured analog multiplier and vector-by-matrixmultiplier for neural network,Japanese Journal of Applied Physics,vol.59,no.SG,pp.SGGB03,2020),相关技术还有基于CMOS的电流域的CiM的相关技术,使用和IEDM类似的放电方式,不过输入并非通过脉宽而是通过模拟电压给定;计算结果也依赖于晶体管的输出特性,但每单元存储多个比特,折算到单个计算操作的TOPS/W能效会相对提升(参考Z.Chen,X.Chen and J.Gu,15.3 A 65nm 3T Dynamic Analog RAM-Based Computing-in-Memory Macro and CNN Accelerator with Retention Enhancement,AdaptiveAnalog Sparsity and 44TOPS/WSystem Energy Efficiency,2021 IEEE InternationalSolid-State Circuits Conference(ISSCC),2021,pp.240-242),相关技术还有基于CMOS的电荷域的CiM的相关技术,并行度高、能效高、对晶体管特性的依赖减弱,但是因为使用CMOS的SRAM,漏电导致的待机功耗较基于IGZO TFT的实现高(参考H.Jia et al.,15.1 AProgrammable Neural-Network Inference Accelerator Based on Scalable In-MemoryComputing,2021 IEEE International Solid-State Circuits Conference(ISSCC),2021,pp.236-238)。

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