[发明专利]显示面板和检测系统

说明书

本申请实施例提供了显示面板和检测系统，显示面板包括沿行方向和列方向交叉排布的发光元件、多条第一检测线和多条第二检测线；每条第一检测线能够将一行发光元件中的多个发光元件串联，每条第二检测线能够将一列发光元件中的多个发光元件串联；每条第一检测线上设置有第一检测点位，每条第二检测线上设置有第二检测点位。本申请实施例能够降低发光元件的检测难度，提高发光元件的检测效率。

技术领域

本申请属于显示技术领域，尤其涉及一种显示面板和检测系统。

背景技术

随着显示技术的发展，显示面板的种类也越来越广泛。例如，显示面板的种类有液晶显示面板(Liquid Crystal Display，LCD)、有机发光二极管(Organic Light-EmittingDiode，OLED)显示面板、次毫米发光二极管(Mini LED)显示面板和微型发光二极管(MicroLED)显示面板等。

在显示面板的制作阶段，因为工艺良率的因素，会有部分的显示像素无法发光或者是发光表现不如预期，而形成坏点(Dead Pixel)，影响显示面板的显示品质。因此，为了保证显示面板的显示品质，需要对显示面板中的发光元件进行检测或者返修。

然而，经本申请的发明人发现，由于显示面板中的发光元件的数量众多且均为像素级别，所以难以对于发生故障的发光元件进行识别和迅速定位，存在检测难度较大及检测效率低的技术问题。

发明内容

本申请实施例提供一种显示面板和检测系统，能够降低显示面板中发光元件的检测难度，提高检测效率。

第一方面，本申请实施例提供了一种显示面板，显示面板包括沿行方向和列方向交叉排布的发光元件、多条第一检测线和多条第二检测线；每条第一检测线用于将一行发光元件中的多个发光元件串联，每条第一检测线上设置有第一检测点位；每条第二检测线用于将一列发光元件中的多个发光元件串联，每条第二检测线上设置有第二检测点位。

第二方面，本申请实施例提供了一种检测系统，检测系统包括：如第一方面提供的显示面板；检测装置，检测装置能够与N条第一检测线上的第一检测电位电连接，用于输出N行发光元件的检测结果；检测装置能够与M条第二检测线上的第二检测电位电连接，用于输出M列发光元件的检测结果，M和N均为正整数。

本申请实施例的显示面板和检测系统，显示面板包括沿行方向和列方向交叉排布的发光元件、多条第一检测线和多条第二检测线；每条第一检测线能够将一行发光元件中的多个发光元件串联，每条第二检测线能够将一列发光元件中的多个发光元件串联；每条第一检测线上设置有第一检测点位，每条第二检测线上设置有第二检测点位。在某一发光元件发生故障时，与该发光元件所在的一行发光元件连接的第一检测点位上的电学参数会发生变化，同时与该发光元件所在的一列发光元件连接的第二检测点位上的电学参数也会发生变化。因此，通过第一检测点位反馈的电学参数和第二检测点位反馈的电学参数，便可以快速且准确地确定发生故障的发光元件所在的行及所在的列，进而通过行列定位便可以快速且准确地确定发生故障的发光元件的具体位置，降低了显示面板中发光元件的检测难度，提高了发光元件的检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的显示面板的一种俯视示意图；

图2为本申请实施例提供的显示面板的另一种俯视示意图；

图3为本申请实施例提供的显示面板的又一种俯视示意图；

图4为本申请实施例提供的显示面板的又一种俯视示意图；

图5为本申请实施例提供的显示面板的一种电路示意图；

图6为本申请实施例提供的显示面板的一种截面示意图；