[发明专利]WDM波长通道识别方法、装置、设备及可读存储介质

说明书

本申请涉及一种WDM波长通道识别方法、装置、设备及可读存储介质，涉及通信光路测试技术领域，包括获取波长通道支路的包含波长数组和插损数组的二维数组；根据插损数组中的最小插损值与预设插损值得到和插损值；从波长数组中获取与和插损值相邻的第一插损值对应的第一波长值及第二插损值对应的第二波长值，且计算得到通道中心波长值和与预设插损值对应的带宽值，并确定出波长通道支路的初始WDM类型，再获取与通道中心波长值之间的差值最小的通道标称中心波长值；最后基于通道中心波长值、通道标称中心波长值和初始WDM类型的带宽上限值识别出波长通道支路的实际WDM类型。本申请可有效识别出波长通道支路的类型，并提高了识别效率。

技术领域

本申请涉及通信光路测试技术领域，特别涉及一种WDM波长通道识别方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

5G前传网络使用LWDM(LAN WDM，细波分复用)、MWDM(Dense WDM，密集波分复用)、CWDM(Coarse WDM，稀疏波分复用)等三种光波分复用器件，可以实现在同一条光纤中传输多路光波长信号的功能，降低网络建设成本。其中，对WDM(Wavelength DivisionMultiplexing，波分复用)器件的测试，无论采用哪种方法，最终都会得到一个通道的二维数据表，即插入损耗-波长数据，也称波长通道的插损谱，不过由于考虑到一个WDM需要测试多个波长通道支路端口(参见图1所示的λc1支路、λci支路和λcn支路，对于单WDM器件而言，其内的所有波长通道支路的通带宽度规范值相同；但是对于混合器件而言，其内的不同波长通道支路的通带宽度规范值不一定相同)，因此可得到一个插入损耗、波长、支路端口三维数组。于是，通过对每个波长通道支路的插损谱数据进行分析，就可以得到单个波长通道支路的插入损耗、中心波长、通道带宽、相邻隔离度、非相邻隔离度等参数的分析结果。

不过，在进行数据分析时，对于某个单一的WDM器件类别，由于已知其器件种类，因此分析过程需要的一些参数设置都是确定的；但对类似LWDM+CWDM类的混合WDM器件，波长通道支路端口中既有LWDM支路(即λc1支路)，也有CWDM支路(即λci+1支路)，参见图2所示，如果波长通道的测试数据中没有包含该波长通道支路的类别，那么在分析数据时就需要明确该支路是按LWDM还是CWDM的参数设置进行分析。

相关技术中，在分析数据时，通常采用以下两种方法明确该支路是按LWDM还是CWDM的参数设置进行分析：第一种是测试时每测试一个波长通道支路，就在测试数据中加入波长通道支路的类别信息，数据分析时根据这个支路的类别信息进行分析；第二种是先进行尝试性地分析，即人工根据插损谱的大体形状判断该波长通道支路属于哪种类型，然后再按照相应类型进行数据分析。

对于第一种方法，测试过程中会多出一道手续，即需要添加波长通道支路的类别信息，不过由于某些测试系统或某些测试场合没有给测试人员添加波长通道支路类型信息的机会，以致该方法无法实现；而对于第二种方法，每个波长通道支路都必须先通过人工判断，其效率显然存在问题，也给数据自动分析带来诸多不便。

发明内容

本申请提供一种WDM波长通道识别方法、装置、设备及可读存储介质，以解决相关技术中存在的WDM的波长通道支路无法被有效识别以及识别效率低的问题。

第一方面，提供了一种WDM波长通道识别方法，包括以下步骤：

获取某一波长通道支路的二维数组，所述二维数组包括波长数组和插损数组，所述波长数组中的元素与所述插损数组中的元素具有一一对应关系；

获取所述插损数组中的最小插损值，根据所述最小插损值与预设插损值计算得到和插损值；

从所述波长数组中获取与所述和插损值相邻的第一插损值对应的第一波长值以及第二插损值对应的第二波长值；

基于所述第一波长值和所述第二波长值计算得到通道中心波长值以及与所述预设插损值对应的带宽值；