[实用新型]一种晶体测径仪

权利要求书

1.一种晶体测径仪，其特征在于：包括测径仪座体（1）、设在所述测径仪座体（1）上的测径导轨座组件（2）、设在所述测径导轨座组件（2）上的支撑架组件（3）、设在所述支撑架组件（3）上的瞄准镜（5）和数显尺组件（4），所述测径导轨座组件（2）包括导轨座（9）、设在所述导轨座（9）上的导轨（10）和在所述导轨（10）上滑动的滑块（11）；

所述支撑架组件（3）包括设在所述滑块（11）上的支撑板（13）、设在所述支撑板（13）上的第一支撑架（14）和第二支撑架（15）、设在所述第一支撑架（14）上的第一套块组件（16）、设在所述第二支撑架（15）上的第二套块组件（17），所述瞄准镜（5）设在所述第一套块组件（16）和所述第二套块组件（17）之间；

所述数显尺组件（4）包括刻度尺杆（20）、设在所述刻度尺杆（20）上的数显尺头（21）、设在所述数显尺头（21）上的数显定位头（22）、设在所述刻度尺杆（20）两端的尺杆定位组件（23）和设在所述数显定位头（22）两端的定位头限位块（24）。

2.根据权利要求1所述的晶体测径仪，其特征在于：所述第一支撑架（14）和所述第二支撑架（15）均设有第一安装孔（33）、与所述第一安装孔（33）垂直设置的第二安装孔（34），所述第一套块组件（16）和所述第二套块组件（17）均包括套块（26）、穿过所述第一安装孔（33）且与所述套块（26）连接的角度调节块（27）、与所述第二安装孔（34）相对应的垂直定位螺钉（29），所述套块（26）内设有用于所述瞄准镜（5）安装的半圆弧口（31）。

3.根据权利要求2所述的晶体测径仪，其特征在于：所述第一支撑架（14）和所述第二支撑架（15）均包括既与所述第一安装孔（33）垂直设置又与所述第二安装孔（34）垂直设置的第三安装孔（35），所述第三安装孔（35）上设有用于所述第一套块组件（16）和所述第二套块组件（17）固定的水平定位旋钮（18）。

4.根据权利要求1所述的晶体测径仪，其特征在于：所述尺杆定位组件（23）包括尺杆定位块（37）和盖设在所述尺杆定位块（37）上的尺杆定位盖板（38），所述尺杆定位块（37）上设有用于放置所述数显尺组件（4）的尺杆定位承接槽（39），所述尺杆定位承接槽（39）内设有用于所述数显尺组件（4）固定的数显尺固定螺丝孔（40）。