[实用新型]芯片测试筛选平台

说明书

本实用新型公开了芯片测试筛选平台,包括外壳，所述外壳的内底部固定连接有底座，所述底座的内部设置有主板，所述底座的上表面设置有多个夹紧装置，且夹紧装置包括固定块一、支架一、支架二和固定块二，所述固定块一与固定块二的上表面均固定连接有加热块，所述底座的上表面且位于夹紧装置内设置有检测器。本实用新型，可以通过支架二在立柱一的滑槽内移动，使固定块一和固定块二对芯片进行夹紧，通过立柱二在底座上的滑槽移动可以对芯片进行固定，就可以实现对不同大小芯片的固定，可以更换检测器可以对不同种类芯片进行检测，通过加热块可以对芯片检测能在多少度下正常工作。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，尤其涉及芯片测试筛选平台。

背景技术

芯片是电子产品中很重要的一部分，它可以使多种不同的功能可以组合在一起，经过很长一段时间的发展，芯片越来越小但是功能却在逐渐的丰富，从而使电子产品在很小的面积能够实现多种不同功能，芯片的好坏是非常重要的，可以影响一个电子产品个工作效率，坏的芯片会导致电子产品失效，所以检测芯片的好坏是非常重要的，就出现了多种检测芯片的装置。

芯片到成品需要对其检测，通常的检测一般不能对不同的芯片进行检测，且结构复杂。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的芯片测试筛选平台。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：芯片测试筛选平台，包括外壳，所述外壳的内底部固定连接有底座，所述底座的内部设置有主板，所述底座的上表面设置有多个夹紧装置，且夹紧装置包括固定块一、支架一、支架二和固定块二，所述固定块一与固定块二的上表面均固定连接有加热块，所述底座的上表面且位于夹紧装置内设置有检测器。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述底座表面开设有滑槽，且滑槽滑动连接有立柱二，所述立柱二的前壁固定连接有横板，所述横板的表面开设有螺纹孔，且螺纹孔螺纹连接有螺纹柱一。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述立柱二的侧壁连接有夹紧装置。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述底座的上表面固定连接有立柱一，所述立柱一的侧壁开设有滑槽，所述支架一固定连接在滑槽内，所述支架二滑动连接在滑槽内，所述立柱一与立柱二的前壁均螺纹连接有螺纹柱二，且螺纹柱二与支架二固定连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述支架一远离立柱一的一端与固定块一侧壁固定连接，所述支架二远离立柱一的一端与固定块两侧壁固定连接，所述固定块一与固定块二都紧贴底座。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述检测器的表面开设有若干个孔，所述检测器与主板电性连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述外壳的侧壁固定连接有控制器，所述控制器的上表面固定连接有温度传感器。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述控制器的前壁设置有开关，所述开关一侧设置有声音报警器。

本实用新型具有如下有益效果：

1、与现有技术相比，该芯片测试筛选平台，可以通过支架二在立柱一的滑槽内移动，使固定块一和固定块二对芯片进行夹紧，通过立柱二在底座上的滑槽移动可以对芯片进行固定，就可以实现对不同大小芯片的固定，可以更换检测器对不同种类芯片的检测。

2、与现有技术相比，该芯片测试筛选平台，可以通过温度传感器调节加热块可以对芯片进行加热，从而确定芯片工作范围内的温度。

附图说明