[实用新型]一种用于光学跟踪系统精度检测的工装有效

专利信息
申请号: 202121865848.2 申请日: 2021-08-11
公开(公告)号: CN215810673U 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 何万亮;陈向前;安学亮;史纪鹏;张强强;陈小刚 申请(专利权)人: 真健康(北京)医疗科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京力致专利代理事务所(特殊普通合伙) 11900 代理人: 朱静谦
地址: 100192 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 光学 跟踪 系统 精度 检测 工装
【说明书】:

本申请公开了一种用于光学跟踪系统精度检测的工装,工装包括工装本体,所述工装本体上设有基于光学跟踪系统确定的第一基准孔和第二基准孔。第一基准孔和第二基准孔作为基准测量孔,两者之间的距离确定,将两者之间的加工距离作为基准尺寸;当下一次的光学跟踪系统在使用时,基于光学跟踪系统的成像原理测量出小孔在工装本体上成像的两个点之间的测量尺寸,将测量尺寸和基准尺寸进行对比,就可以确定出光学跟踪系统的测量精度;工装在使用过程中简单、便捷,可以作为后续测量尺寸的对比基准,以此能够快速对光学跟踪系统的精度进行检测,从而验证是否满足手术导航定位设备整体精度需求。

技术领域

本申请涉及医疗设备技术领域,具体而言,涉及一种用于光学跟踪系统精度检测的工装。

背景技术

光学跟踪系统是目前医疗手术导航定位设备中的核心部件,光学跟踪系统包括反光小球,光学跟踪系统通过追踪反光小球来实验对目标的实时跟踪定位。

光学跟踪系统的定位精度直接影响着整个手术导航定位设备的精度,因而医疗手术导航定位设备的测试过程中,需要经常对光学跟踪系统的精度进行检验,保证系统的精度能满足要求。

目前的光学跟踪系统检测设施,结构比较复杂,成本比较高,其操作过程复杂,导致使用过程中工序多、不够便捷。

实用新型内容

本申请的主要目的在于提供一种用于光学跟踪系统精度检测的工装,以解决目前的问题。

为了实现上述目的,本申请提供了如下技术:

一种用于光学跟踪系统精度检测的工装,所述工装包括工装本体,所述工装本体上设有基于光学跟踪系统确定的第一基准孔和第二基准孔。

作为本申请的一种实施方案,优选地,所述工装本体包括连接段,所述第一基准孔和第二基准孔均设于所述连接段上。

作为本申请的一种实施方案,优选地,所述工装本体还包括定义段,所述定义段对称设于所述连接段的左右两端。

作为本申请的一种实施方案,优选地,所述定义段上设有定义孔,所述定义孔的相对位置由光学跟踪系统的成像原理确定。

作为本申请的一种实施方案,优选地,所述定义孔的数量为三个。

作为本申请的一种实施方案,优选地,所述工装还包括反光小球柱,光学跟踪系统的反光小球配合在所述反光小球柱上。

作为本申请的一种实施方案,优选地,每个定义孔上均配合有一个反光小球柱。

作为本申请的一种实施方案,优选地,所述第一基准孔和第二基准孔上均配合有一个反光小球柱。

作为本申请的一种实施方案,优选地,所述定义段1和所述连接段一体成型。

作为本申请的一种实施方案,优选地,所述定义段1和所述连接段的材质皆为钢材。

与现有技术相比较,本申请能够带来如下技术效果:

1、本技术通过结合光学跟踪系统的原理,设计了一款光学跟踪系统的精度测量工装,工装包括工装本体,所述工装本体上设有基于光学跟踪系统确定的第一基准孔和第二基准孔,第一基准孔和第二基准孔作为基准测量孔,工装上的基准测量孔在加工后,两者之间的距离确定,将两者之间的加工距离作为基准尺寸;当下一次的光学跟踪系统在使用时,基于光学跟踪系统的成像原理测量出小孔在工装本体上成像的两个点之间的测量尺寸L,将测量尺寸L和基准尺寸进行对比,测量五组以上的数据进行比对分析后,从而就可以确定出光学跟踪系统的测量精度;

2、本技术设计的工装在使用过程中简单、便捷,可以作为后续测量尺寸的对比基准,以此能够快速对光学跟踪系统的精度进行检测,从而验证是否满足手术导航定位设备整体精度需求。

附图说明

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