[实用新型]一种芯片外观参数测量台仪器

说明书

本实用新型涉及测量仪器技术领域，具体为一种芯片外观参数测量台仪器，包括光学测量探头，所述光学测量探头设置在测量杆的顶部，所述测量杆的下端连接有底座，所述底座上分别设置有第一固定卡爪、第二固定卡爪、第一活动卡爪和第二活动卡爪，所述第一活动卡爪滑动连接于第一滑杆，所述第二活动卡爪滑动连接于第二滑杆，所述第一滑杆和第二滑杆分别设置于第一凹槽和第二凹槽内，所述第一滑杆套设有第一弹簧，所述第一弹簧一侧连接于第一凹槽，所述第一弹簧的另一侧连接于第一活动卡爪，所述第二滑杆套设有第二弹簧，所述第二弹簧一侧连接于第二凹槽，所述第二弹簧的另一侧连接于第二活动卡爪，形成弹性滑动结构，从而能够更好的夹持芯片。

技术领域

本实用新型涉及测量仪器技术领域，具体为一种芯片外观参数测量台仪器。

背景技术

随着电子技术的迅速发展，电子芯片的检测技术需求也在快速提升，电子芯片的外观参数测量，也成为了电子芯片检测技术的重要组成部分。常规的电子芯片外观参数测量方式比如机械卡尺测量，测量速度慢，并且芯片结构精密，容易被机械装置损伤。常规光学外观参数测量设备虽然不需要固定芯片，但是仍需要将芯片放置在坚硬的平台上，芯片底部一般有较为细密的针脚，坚硬平台容易损伤针脚，并且针脚结构有大量细小缝隙，容易进灰难以清理。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片外观参数测量台仪器，包括光学测量探头，所述光学测量探头设置在测量杆的顶部，所述测量杆的下端连接有底座，所述底座上分别设置有第一固定卡爪、第二固定卡爪、第一活动卡爪和第二活动卡爪，所述第一活动卡爪滑动连接于第一滑杆，所述第二活动卡爪滑动连接于第二滑杆，所述第一滑杆和第二滑杆分别设置于第一凹槽和第二凹槽内，所述第一滑杆套设有第一弹簧，所述第一弹簧一侧连接于凹槽，所述第一弹簧的另一侧连接于第一活动卡爪，所述第二滑杆套设有第二弹簧，所述第二弹簧一侧连接于凹槽，所述第二弹簧的另一侧连接于第二活动卡爪，形成弹性滑动结构。

优选的：所述第一活动卡爪和第二活动卡爪的顶部分别设置有第一橡胶垫片和第二橡胶垫片，所述固定卡爪和固定卡爪的顶部分别设置有第三橡胶垫片和第四橡胶垫片。

优选的：所述底座的一侧设置有活动抽屉，所述活动抽屉的内部设置有吹尘机。

优选的：所述活动抽屉的两侧分别安装有第一滑轨和第二滑轨，所述第一滑轨连接在第一滑轨接槽上，所述第二滑轨连接在第二滑轨接槽上，所述第一滑的尺寸和第二滑轨的尺寸分别与第一滑轨接槽尺寸和第二滑轨接槽的尺寸相适配。

优选的：所述活动抽屉的底部设置有按压式弹簧卡扣卡脚，所述按压式弹簧卡扣卡脚连接有按压弹簧卡扣卡槽，所述按压式弹簧卡扣卡槽安装于底座内部。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、通过四个卡爪来夹持芯片，测量时只需将芯片轻放在卡爪的橡胶垫片上，避免芯片与其他坚硬机械结构接触而受到损伤。

2、通过活动卡爪调整夹持范围，可以适配不同型号大小的芯片，从而能够测量不同类型大小的芯片

3、通过活动抽屉内放置的吹尘机，可以在测量芯片的同时对芯片进行清洁，从而保证芯片以及部分芯片底部针脚的清洁度，减少灰尘对芯片的影响。

附图说明

图1为本实用新型整体立体结构示意图；

图2为本实用新型侧视图；

图3为图1中B处内部结构示意图；

图4为图1中A处内部结构示意图。

图中：