[实用新型]电源保护电路及系统有效

专利信息
申请号: 202123086464.3 申请日: 2021-12-08
公开(公告)号: CN216794603U 公开(公告)日: 2022-06-21
发明(设计)人: 王灵松 申请(专利权)人: 广州视源电子科技股份有限公司;广州视睿电子科技有限公司;广州视琨电子科技有限公司
主分类号: H02H3/20 分类号: H02H3/20;G01R31/42
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 张芳;臧建明
地址: 510530 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电源 保护 电路 系统
【说明书】:

本申请提供一种电源保护电路及系统,包括:用于连接供电电源的转接插头;用于连接待测试电源的转接插座;串联在转接插头和转接插座之间的零线或火线上的热敏电阻;串联在转接插头和转接插座之间的零线或火线上的第二开关;连接在第二开关的控制端的控制模块;连接转接插头的火线端和零线端的第一隔离降压电路;连接在热敏电阻的两端的第二隔离降压电路;输入端连接第一隔离降压电路的输出端和第二隔离降压电路的输出端的比较器;该比较器的输出端连接与控制模块。本申请通过检测热敏电阻两端电压,控制供电电源与待测试电源之间的导通和断开,以在检测出不良品时,及时断路以保护待测试电源,降低报废率。

技术领域

本申请涉及测试领域,尤其涉及一种电源保护电路及系统。

背景技术

电脑、手机、电视机及显示器的供电电源等电源模块,一般包括外壳、印刷电路板组件(Printed Circuit Board Assembly,简称PCBA)和电池三大部分。在电源组装为成品之前通常要对PCBA进行一系列的测试。

当前电源行业内的通用测试流程为对电源PCBA半成品依次进行通电初测、带载老化和性能复测,测试合格后方可进入包装等后续收尾环节。其中,通电初测环节主要用于筛查出生产线上的加工不良品(如元器件原材料失效、焊锡残留短路、设计异常等)。目前,上述的测试流程为将待测试电源PCBA直接连通交流电进行测试。

然而,上述将待测试电源直接通电的测试方式,在检测到不良品时不能及时地保护待测试电源,存在某个元器件失效而造成其他元器件的连锁炸毁的情况,导致报废率高。

实用新型内容

本申请提供一种电源保护电路及系统,用以保护待测试电源,降低报废率。

一方面,本申请提供一种电源保护电路,包括:转接插头、转接插座、热敏电阻、第二开关、控制模块、第一隔离降压电路、第二隔离降压电路、比较器;转接插头用于连接供电电源,转接插座用于连接待测试电源;热敏电阻串联在转接插头和转接插座之间的零线或火线上;第二开关串联在转接插头和转接插座之间的零线或火线上;第二开关的控制端连接控制模块;第一隔离降压电路的输入端分别连接转接插头的火线端和零线端;第二隔离降压电路的输入端分别连接至热敏电阻的两端;第一隔离降压电路的输出端连接至比较器的第一输入端,第二隔离降压电路的输出端连接至比较器的第二输入端;比较器的输出端与控制模块连接。

本申请在供电电源与待测试电源之间设置电源保护电路,对电源保护电路中热敏电阻两端的电压降压耦合生成待比较电压信号,对供电电源电压降压耦合生成基准比较电压信号,根据待比较电压信号与基准比较电压信号的大小,控制模块控制第二开关的开闭以控制供电电源与待测试电源之间的导通和断开,以在检测出不良品时,及时地保护待测试电源,避免测试过程中某个元器件失效后引发其他器件的连锁炸毁,导致维修难度大甚至直接报废,报废率高。

在一种可行的方式中,控制模块包括MCU芯片、第二控制电路;第二开关包括第二继电器;MCU芯片的检测端口与比较器的输出端连接;第二控制电路包括第二控制开关Q4,第二控制开关的控制端与MCU芯片的第二输出端口连接,第二控制开关的第一端与第二继电器的控制端连接,第二控制开关的第二端接地。

上述设置进一步阐述了控制模块控制第二开关开闭的工作原理,通过MCU芯片基于比较器输出的待比较电压信号与基准比较电压信号的比较结果控制第二控制开关的导通和截止,以控制第二继电器开闭第二开关。

在一种可行的方式中,第二控制电路还包括:位于MCU芯片与第二控制开关之间的第二驱动单元;第二驱动单元的输入端与MCU芯片的第二输出端口连接,第二驱动单元的输出端与第二控制开关的控制端连接。

上述设置用于增强MCU芯片的输出引脚的驱动能力。

在一种可行的方式中,电源保护电路还包括:第二发光元件;第二发光元件的第一端与工作电压连接,第二发光元件的第二端与第二控制开关的第一端连接。

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