[发明专利]一种基于半导体器件加工的绝缘层刻蚀装置有效
申请号: | 202210006286.9 | 申请日: | 2022-01-05 |
公开(公告)号: | CN114300396B | 公开(公告)日: | 2023-01-31 |
发明(设计)人: | 管章永;王浩元;刘爱桃;胡石磊 | 申请(专利权)人: | 郯城宏创高科技电子产业园有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 山东诺诚智汇知识产权代理事务所(普通合伙) 37309 | 代理人: | 佘莉芳 |
地址: | 276100 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 半导体器件 加工 绝缘 刻蚀 装置 | ||
1.一种基于半导体器件加工的绝缘层刻蚀装置,其特征在于:包括工作台(1);所述工作台(1)顶部固定连接有真空腔(2),真空腔(2)内部设置有温度混合结构,真空腔(2)曲侧面底部设置有底凸仓(201),真空腔(2)曲侧面顶部设置有顶凸仓(202);所述温度混合结构包括固定座(2011),其固定连接于底凸仓(201)外曲侧面处,固定座(2011)外侧固定连接有伺服电机(2012),伺服电机(2012)转轴顶部通过同轴连接设置有顶齿轮(2013),顶齿轮(2013)底部通过同轴连接设置有承接片(2014),承接片(2014)顶部通过滑动连接设置有齿环(2015),齿环(2015)内侧齿部与顶齿轮(2013)啮合传动;
所述顶凸仓(202)内侧设置有酸剂环喷结构,顶凸仓(202)外侧顶部固定连接有出料结构,出料结构包括往复丝杠(3);
所述真空腔(2)顶部连接设置有密封顶板(4),真空腔(2)内侧底部设置有晶圆支撑结构;
所述工作台(1)后侧设置有总控制箱(6),总控制箱(6)左侧固定连接有加压泵,总控制箱(6)右侧固定连接有真空泵(601);
所述温度混合结构还包括磁块A(2016)、内凹槽(2017),磁块A(2016)固定连接于齿环(2015)顶部,内凹槽(2017)数量设置为二组,其固定连接于底凸仓(201)内侧顶部与底部;
所述温度混合结构还包括混合转轮(203),混合转轮(203)通过滑动连接设置于内凹槽(2017)内侧,混合转轮(203)顶部与底部通过铰连接设置有滚轮(204),混合转轮(203)内曲侧面固定连接有斜翅(2031),混合转轮(203)外曲侧面固定连接有磁块B(2032);
所述酸剂环喷结构包括环形管(2021)、超声波雾化喷头(2022)和控压阀(2023),环形管(2021)固定连接于顶凸仓(202)内侧,环形管(2021)后端与加压泵相连接,环形管(2021)内曲侧面固定连接有超声波雾化喷头(2022),超声波雾化喷头(2022)内部通过法兰连接设置有控压阀(2023);
所述晶圆支撑结构包括电磁铁(205),电磁铁(205)固定连接于真空腔(2)内侧底部,真空腔(2)内侧底部还固定连接有环座A(206);
所述环座A(206)内侧固定连接有外架(2061),外架(2061)内侧通过铰连接设置有弯折架(2062),弯折架(2062)顶端固定连接有弧形夹(2063),弯折架(2062)底部突出部通过铰连接设置有铰接件(2064),铰接件(2064)底部固定连接有连接座(2065),连接座(2065)底部固定连接有铁片(2066);
所述出料结构还包括有步进电机(301),步进电机(301)固定连接于往复丝杠(3)滚珠螺母座前端;电动推杆A(302),其通过同轴连接设置于步进电机(301)转轴曲侧面;气泵(303),气泵(303)固定连接于往复丝杠(3)后端立面处;吸头(3031),吸头(3031)固定连接于电动推杆A(302)伸缩部前端;
所述密封顶板(4)顶部设置有电动推杆B(5),电动推杆B(5)伸缩部曲侧面与密封顶板(4)内侧铰连接,电动推杆B(5)顶部通过同轴连接设置有调角电机(501),调角电机(501)后端固定连接于支撑架(502)前端处,支撑架(502)前端与电动推杆B(5)外曲侧面铰连接,支撑架(502)后端与总控制箱(6)固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种基于半导体器件加工的绝缘层刻蚀装置,其特征在于,所述电动推杆B(5)伸缩部底端固定连接有环座B(503),环座B(503)内侧固定连接有支撑条(5031),支撑条(5031)顶面固定连接有圆槽(5033),支撑条(5031)前端固定连接有下折板(5032)。
3.根据权利要求1所述的一种基于半导体器件加工的绝缘层刻蚀装置,其特征在于,所述总控制箱(6)内部另一加压泵通过管道与真空腔(2)内部相连接,另一加压泵管道内部固定连接有电磁阀(207)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造