[发明专利]一种基于CBCT容积数据进行头影测量标志点定位的方法及系统在审

专利信息
申请号: 202210044459.6 申请日: 2022-01-14
公开(公告)号: CN114190963A 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 蔡川;张彤;许来青;孟祥博;张昊东;于童 申请(专利权)人: 中国人民解放军总医院第一医学中心
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/14
代理公司: 北京知呱呱知识产权代理有限公司 11577 代理人: 郑兴旺
地址: 100853*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 cbct 容积 数据 进行 测量 标志 定位 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于CBCT容积数据进行头影测量标志点定位的方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:

S1,调整CBCT容积数据至测量所需要的头部区域,以确定头部位置;

S2,针对每个标志点的解剖位置预设特定区段,从所述CBCT容积数据中划出所述区段相应的范围,将所述区段相应范围的三维容积数据投影为二维数据;

S3,依次确定每个标志点,并显示相应的区段投影数据转化二维影像,以进行头影测量标志点定位。

2.如权利要求1所述的头影测量标志点定位的方法,其特征在于,进一步包括:

所有标志点同时标记于完整容积数据转化的二维投影片中。

3.如权利要求1所述的头影测量标志点定位的方法,其特征在于,所述调整CBCT容积数据至测量所需要的头部区域,根据预设参考平面确立标准头位,其中,建立参考平面的方法,包括:

以双侧眶点及右侧耳点建立的眶耳平面作为水平参考平面;

以通过双侧眶下点连线、垂直于眶耳平面的平面作位冠状参考平面。

4.如权利要求1所述的头影测量标志点定位的方法,其特征在于,

所述特定区段的预设划分范围基于大部分人的面部比例正常范围;或在测量每一个标志点时,重新调整,以适应单个测量对象。

5.如权利要求1所述的头影测量标志点定位的方法,其特征在于,

所述从CBCT容积数据中划出相应的范围为矩形范围。

6.如权利要求1所述的头影测量标志点定位的方法,其特征在于,所述标志点包括:单一解剖标志点或由多个解剖结构间接形成的引申标志点。

7.如权利要求1所述的头影测量标志点定位的方法,其特征在于,还包括:

当所述标志点为解剖结构投影到二维影像重叠形成的点,分别区段转化所述多个解剖结构相关的容积数据投影至二维平面进行重叠,以确定标志点。

8.一种基于CBCT容积数据进行头影测量标志点定位的系统,其特征在于,该系统包括:

头位确定模块,调整CBCT容积数据至测量所需要的头部区域,根据预设参考平面确立头位;

数据处理模块,针对每个标志点的解剖位置预设特定区段,从所述CBCT容积数据中划出所述区段相应的范围,将所述区段相应范围的三维容积数据投影为二维数据;

测量定位模块,依次确定每个标志点,并显示相应的区段投影数据转化二维影像,以进行头影测量标志点定位。

9.如权利要求8所述的头影测量标志点定位的系统,其特征在于,

所述特定区段的预设划分范围基于大部分人的面部比例正常范围;或在测量每一个标志点时,重新调整,以适应单个测量对象。

10.如权利要求8所述的头影测量标志点定位的系统,其特征在于,

当所述标志点为解剖结构投影到二维影像重叠形成的点,分别区段转化所述多个解剖结构相关的容积数据投影至二维平面进行重叠,以确定标志点。

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