[发明专利]集成电路封装连续检测装置

说明书

本申请提供了集成电路封装连续检测装置，包括基座，基座包括检测部以及对称设置于检测部两侧的贮料部，基座顶部开设有主滑槽，主滑槽内设置有若干夹持机构，检测部的前后侧分别设置有控制台和检测机构，其上方设置有旋转驱动机构；基座内腔相对于主滑槽一侧设置有电导轨，两个贮料部内腔对应主滑槽另一侧分别设置有上电机构，上电机构包括若干动电触头，夹持机构包括滑设于主滑槽内的阶梯滑块和旋转设置于阶梯滑块顶部的夹持台，阶梯滑块上设置有与动电触头活动连接的连接插座，电导轨的安装滑块上设置有与阶梯滑块活动连接的吸附机构。本申请能够多角度、高效率的对电路板进行连续检测。

技术领域

本申请涉及集成电路检测技术领域，特别涉及集成电路封装连续检测装置。

背景技术

本部分的陈述仅仅是提供了与本申请相关的背景技术信息，不必然构成在先技术。

现有的集成电路板检测大多依赖人工检测，检测时间长，效率低下还容易出错，浪费人力资源。学校实验室采用了一些检测设备来辅助检测，但这些设备还存在较大的问题，比如：待检测电路板大多水平放置，检测探头置于电路板上方检测，但一些电路板的待检测插槽或插针置并不是竖直朝上，而是设置于电路板侧面，而且一块电路板上存在多种大小不同的元件容易对待检测插槽或插针进行遮挡，不利于探针行进检测，检测设备的应用面较窄；同时，一块电路板通常需要多组检测探头检测，每完成一个检测步骤都需要更换检测探头，浪费时间，降低了效率；一些自动化程度较高的检测设备还存在电路板的上料、输送、下料部件，但电路板水平放置容易造成背面焊点与输送部位摩擦，使待检测电路板或检测设备损坏，若利用夹持设备夹持电路板又存在夹持设备循环往复移动难以供电通讯的问题。

为此，需要研发一种能够多角度、高效率的对电路板进行连续检测的检测设备。

发明内容

本申请为了解决上述问题提出了集成电路封装连续检测装置，能够多角度、高效率的对电路板进行连续检测。

本申请提供了集成电路封装连续检测装置，包括基座，所述基座包括检测部以及对称设置于检测部两侧的贮料部，基座顶部开设有主滑槽，所述主滑槽内设置有若干夹持机构，所述检测部的前后侧分别设置有控制台和检测机构，其上方设置有旋转驱动机构；所述基座内腔相对于主滑槽一侧设置有电导轨，两个贮料部内腔对应主滑槽另一侧分别设置有上电机构，所述上电机构包括若干动电触头，所述夹持机构包括滑设于主滑槽内的阶梯滑块和旋转设置于阶梯滑块顶部的夹持台，所述阶梯滑块上设置有与动电触头活动连接的连接插座，所述电导轨的安装滑块上设置有与阶梯滑块活动连接的吸附机构；所述控制台通过上电机构与夹持机构可通断电连接，电路板竖向夹持于夹持台，旋转驱动机构用于驱动电路板旋转，检测机构用于对电路板进行检测。

优选地，所述阶梯滑块的顶部旋转设置有转动柱，所述夹持台连接于转动柱顶部，阶梯滑块靠近所述电导轨的一侧端面开设有与吸附机构适配的吸附槽；所述控制台包括控制器和触控屏，所述控制器与触控屏、夹持机构、检测机构、电导轨、上电机构、吸附机构电连接。

优选地，所述上电机构包括固接于贮料部内壁的固定基板，所述固定基板靠近主滑槽的一侧均匀垂设有若干个第二伸缩机构，所述动电触头设置于第二伸缩机构的伸缩轴末端，动电触头之间的间隔与阶梯滑块的长度相等；所述吸附机构包括垂设于电导轨的安装滑块靠近主滑槽一侧端面的第一伸缩机构，所述第一伸缩机构的伸缩轴末端设置有吸附头，所述吸附头与吸附槽活动连接。

优选地，所述夹持台包括设置于转动柱顶部的支撑块，所述支撑块顶部前后两侧分别开设有夹持滑槽，所述夹持滑槽内滑动设置有两个移动块，所述支撑块内腔的左右侧壁间设置有滑动轨，两个移动块滑动套设于滑动轨上，所述滑动轨上套设有拉紧弹簧，所述拉紧弹簧的两端分别连接于两个移动块相对的端面，两个移动块相对的端面上分别设置有电磁铁。