[发明专利]一种面板缺陷区域提取方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种面板缺陷区域提取方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取包含缺陷的待测面板图像；

提取所述待测面板图像的检测区；

对所述检测区进行边缘检测，获得所述待测面板图像中的轮廓特征；

将所述待测面板图像的轮廓特征与标准模板进行差集运算，获得缺陷轮廓；其中，所述标准模板基于若干无缺陷面板图像的检测区轮廓特征融合获得；

对所述缺陷轮廓进行处理，获得所述缺陷轮廓的掩膜图。

2.如权利要求1所述的面板缺陷区域提取方法，其特征在于，所述获取有缺陷的待测面板图像的步骤之前，还包括：

获取若干无缺陷面板图像；

标记出所述无缺陷面板图像的检测区；

对所述无缺陷面板图像的检测区进行边缘检测，获得若干所述无缺陷面板图像中的轮廓特征；

融合所述无缺陷面板图像中的轮廓特征，获得所述标准模板。

3.如权利要求2所述的面板缺陷区域提取方法，其特征在于，所述融合所述无缺陷面板图像中的轮廓特征，获得所述标准模板的步骤，包括：

判断所述无缺陷面板图像的数量是否小于预设数量阈值；

若是，则对所述无缺陷面板图像中的轮廓特征进行融合，并对融合后的图像进行膨胀运算，以获得所述标准模板。

4.如权利要求1所述的面板缺陷区域提取方法，其特征在于，所述提取所述待测面板图像的检测区的步骤，包括：

通过定位区和检测区机制，标注所述待测面板图像的待测区域；

通过周期性提取所述待测面板图像的待测区域，获得所述检测区。

5.如权利要求1所述的面板缺陷区域提取方法，其特征在于，所述提取所述待测面板图像的检测区的步骤之前，还包括：

获取所述待测面板图像的周期；

根据所述待测面板图像的周期与已知标准周期，对所述待测面板图像进行角度校正，获得第一待测面板图像；

所述提取所述待测面板图像的检测区的步骤，包括：

提取所述第一待测面板图像的检测区。

6.如权利要求5所述的面板缺陷区域提取方法，其特征在于，所述提取所述第一待测面板图像的检测区的步骤，包括：

通过定位区和检测区机制，标注所述第一待测面板图像的待测区域；

通过周期性提取所述第一待测面板图像的待测区域，获得所述检测区。

7.如权利要求5所述的面板缺陷区域提取方法，其特征在于，所述根据所述待测面板图像的周期与已知标准周期，对所述待测面板图像进行角度校正，获得第一待测面板图像的步骤，包括：

判断所述待测面板图像的周期与所述已知标准周期的差值是否大于预设周期阈值；

若是，则对所述待测面板图像进行角度校正，以获得所述第一待测面板图像。

8.如权利要求1所述的面板缺陷区域提取方法，其特征在于，所述对所述检测区进行边缘检测，获得所述待测面板图像中的轮廓特征的步骤之前，还包括：

将所述标准模板和所述待测面板图像的定位区按照三原色光像素值组分成多个颜色区间；

分别获取所述标准模板和所述待测面板图像的定位区对应颜色区间的相关性系数值；

根据所述相关性系数值对所述待测面板图像进行颜色校正，获得第二待测面板图像；

所述对所述检测区进行边缘检测，获得所述待测面板图像中的轮廓特征的步骤，包括：

对所述第二待测面板图像的检测区进行边缘检测，获得所述待测面板图像中的轮廓特征。

9.如权利要求8所述的面板缺陷区域提取方法，其特征在于，所述对所述第二待测面板图像的检测区进行边缘检测，获得所述待测面板图像中的轮廓特征的步骤，包括：

通过定位区和检测区机制，标注所述第二待测面板图像的待测区域；

通过周期性提取所述第二待测面板图像的待测区域，获得所述第二待测面板图像的检测区；

对所述第二待测面板图像的检测区进行边缘检测，获得所述待测面板图像中的轮廓特征。