[发明专利]用于触觉测量、特别是层厚度测量的方法和系统在审
申请号: | 202210230080.4 | 申请日: | 2022-03-10 |
公开(公告)号: | CN115077447A | 公开(公告)日: | 2022-09-20 |
发明(设计)人: | 伯恩德·宾德尔 | 申请(专利权)人: | 赫尔穆特费舍尔股份有限公司电子及测量技术研究所 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08;G01B21/20;G01B11/06;G01B11/24;G01S17/88;G02B27/01 |
代理公司: | 北京知帆远景知识产权代理有限公司 11890 | 代理人: | 苏志莲 |
地址: | 德国辛*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 触觉 测量 特别是 厚度 方法 系统 | ||
本发明涉及一种用于在测量对象(11)的表面(13)上进行触觉测量的方法,其中,借助于触觉测量探头(12)检测至少一个测量值(32),其中,所述至少一个测量值(32)由数据处理设备(16)传送到数据眼镜(20),并且所述至少一个测量值(32)在所述数据眼镜(20)中再现。本发明还涉及一种包括至少一个测量探头、数据眼镜和数据处理设备的系统。该系统被设计为执行用于在测量对象的表面上进行触觉层厚度测量的方法。
技术领域
本发明涉及一种用于触觉测量、特别是层厚度测量的方法以及一种用于执行该方法的系统。
背景技术
如今,工业厂房、车辆、船舶、建筑物和其他工业产品的表面都采用保护涂层(例如清漆)进行处理,以防止或至少减缓磨损。防锈涂料是典型的示例。由于紫外线辐射的影响和气候影响,这种保护涂层必须定期更新。但是,不应以预定的间隔在现有涂层上涂上新涂层。这样的程序会有很多缺点。每次测量都会导致层厚增加,从而导致重量增加,由于静态承载能力(例如在悬索桥上),这可能会出现问题。这种方法也将是成本密集型的。此外,工业物品的磨损可能会因地而异。例如,在吃水线以下和以上的船体或独立式工业厂房的天气侧和其他方向的侧边就是这种情况。
由于这些原因,在施加新的保护涂层之前,通常进行涂层厚度测量以确定磨损程度或先前施加的涂层的剩余涂层厚度。由于所讨论的装置的尺寸或复杂性,必须在不同的测量位置进行大量测量以确定涂层厚度。为了能够得出关于现有保护层质量的可靠结论,必须定义测量位置。换句话说,必须为特定工厂定义限定测量位置网格,可以在重新检查期间进行处理。(重新)找到各种测量位置经常会造成问题。偏离指定的测量位置会导致测量结果错误,从而得出错误的结论。
如果在之前的检查中在实际测量位置和目标测量位置之间存在偏差,则额外的复杂性在于,由于偏差导致的测量错误通常仅在测量的评估期间才被注意到,因此不再在现场实施测量本身期间被注意到。如果要再次检查该测量位置,则必须执行另外的测量措施,例如放置重物或请求升降平台或在建筑物或物体上向下布绳,这涉及大量工作。
EP 2 386 822 A2描述了一种用于测量待测量的大面积表面上的薄层厚度的方法和装置,在该方法中,具有至少一个传感器元件和至少一个相关联的接触球冠的至少一个测量探头被放置在待测量的表面上以记录测量值。然后,使用一种装置将测量探头引导到待测量的表面上,以记录沿着各条线的等距测量点,随后以矩阵的形式对这些等距测量点进行评估。连续测量的再现性和可比性在此例如取决于由用户沿着相同线路引导的设备。
发明内容
本发明的目的是提供一种用于触觉测量的方法,特别是层厚度测量,以及一种用于执行该方法的系统,由此可以简化测量的执行并提高测量的可比性。
该目的通过根据权利要求1的特征的方法来实现。
根据本发明的用于在测量对象的表面上进行触觉(基于接触的)测量、特别是层厚度测量的方法借助于触觉测量探头记录至少一个测量值,并且借助于数据处理设备将该测量值传送到一副数据眼镜。此外,使用图像呈现装置在数据眼镜中显示至少一个测量值。通过测量值在数据眼镜中的图像呈现(特别是通过显示器),进行测量的用户接收到关于测量值的直接反馈。用户可以继续其测试例程,而查看单独或额外的设备的显示器。因此,用户可以立即察觉到,例如测量是否已经进行或已经失败,从而在失败情况下,可以再次进行测量或没有延迟地进行补偿。
该触觉测量探头可以用于测量对象表面的层厚度、腐蚀保护、材料测试、温度测试、或表面测试的基于接触的测量。
根据本方法的优选实施例设置为,数据眼镜中的图像呈现是至少部分透明的(“半透明的”),使得图像呈现与来自实际环境的真实信息叠加。如果图像呈现是至少部分透明的,则眼镜可以再现“混合现实”。在本文中,混合现实应理解为虚拟现实和物理现实的叠加。因此,用户可以同时感知由数据眼镜生成的信息和真实物理测量对象。用户不必将其目光转移到测量对象。这防止了图像显示分散用户的注意力。此外,用户可以自己检查环境和测量位置。
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