[发明专利]一种二维过渡金属硫族化合物量子点的精确仿真方法在审

专利信息
申请号: 202210236146.0 申请日: 2022-03-11
公开(公告)号: CN114582437A 公开(公告)日: 2022-06-03
发明(设计)人: 张硕;尹文言 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G16C20/30 分类号: G16C20/30;G16C10/00;G06F30/23
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 万尾甜;韩介梅
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 二维 过渡 金属 化合物 量子 精确 仿真 方法
【权利要求书】:

1.一种二维过渡金属硫族化合物量子点的精确仿真方法,其特征在于,采用紧束缚哈密顿量,对多种二维过渡金属硫族化合物量子点进行建模仿真,给出低温下自洽的量子点分立能级结构,指导自旋量子比特、能谷量子比特以及自旋-能谷量子比特的设计优化,具体步骤包括:

第一步,基于第一性原理的计算结果,确定二维过渡金属硫族化合物紧束缚模型的基矢电子轨道,拟合得到电子轨道跃迁积分能量,创建相应的参数表格;

第二步,根据量子点结构,建立二维材料层中的原子坐标;加入介电层和栅极部分,构建三维结构,划分以六面体为元胞的三维空间网格;

第三步,针对所述的二维材料层,基于紧束缚近似原理,加入最近邻、次近邻和第三近邻的原子轨道间电子跃迁积分,同时包含自旋-轨道相互作用和外磁场作用,构建相应的量子点完整哈密顿量;针对所述的三维结构,构建泊松方程的拉普拉斯算符和边界条件;

第四步,通过哈密顿量求解薛定谔方程,再通过计算波函数和费米-狄拉克分布得到电荷密度,由电荷密度求解泊松方程得到电势分布;得到的静电势以势能项反馈至薛定谔方程中,迭代计算得到更新的波函数和相应的电荷密度;

第五步,通过数值迭代方法重复进行第四步,直至前、后两次迭代计算得到的静电势差值低于0.1mV,终止迭代,得到电荷密度和静电势能的自洽解;

第六步,由第五步得到的自洽静电势能,通过求解哈密顿量本征值方法再次求解薛定谔方程,计算得到最终的量子点本征能级、塞曼劈裂、本征波函数和静态电荷密度分布;

第七步,通过泡利矩阵和实空间波函数,确定各分立能级的自旋分量;通过对波函数的傅立叶变换得到倒易空间中波函数分布,并确定各能级的能谷占据分量;

第八步,调控外加磁场,通过第六步得到的量子点本征能级、塞曼劈裂以及第七步得到的各能级自旋分量、能谷占据分量,计算材料的自旋/能谷朗德g因子,并进一步设计和定义K能谷双能级系统下的自旋量子比特、能谷量子比特和自旋-能谷量子比特,确定双能级系统的分立能量间隔;

第九步,采用解析方法对所述双能级系统进行拉比振荡动态仿真计算,得到相应的特征物理量。

2.根据权利要求1所述的二维过渡金属硫族化合物量子点的精确仿真方法,其特征在于,第一步所述的紧束缚模型考虑过渡金属d轨道贡献,并由密度泛函理论计算出能带,通过拟合得到d轨道间的跃迁积分,建立d轨道为基矢的紧束缚哈密顿量。

3.根据权利要求2所述的二维过渡金属硫族化合物量子点的精确仿真方法,其特征在于,所述紧束缚哈密顿量在最近邻原子的基础上,进一步考虑了次近邻和第三近邻原子的相互作用,从而精确地计算出单层二维过渡金属硫族化合物的直接能隙和K能谷导带/价带的带边能态分布。

4.根据权利要求2所述的二维过渡金属硫族化合物量子点的精确仿真方法,其特征在于,所述的紧束缚哈密顿量包含自旋轨道相互作用,计入外磁场作用和塞曼效应;同时加入Peierls相位,考虑轨道有效磁场的作用。

5.根据权利要求1所述的二维过渡金属硫族化合物量子点的精确仿真方法,其特征在于,第二步构建的三维结构从下到上依次为:底部栅极、下介电层、二维材料层、上介电层、上栅极;所述的上栅极为围成正三角形的三个栅极结构,或围成正方形的四个栅极结构。

6.根据权利要求1所述的二维过渡金属硫族化合物量子点的精确仿真方法,其特征在于,第三步所述的哈密顿量用于仿真单层二维过渡金属硫族化合物MoS2,MoSe2,MoTe2,WS2,WSe2或WTe2的六边形或三角形多栅静电学量子点、水平异质结量子点或含有空位原子缺陷量子点。

7.根据权利要求5所述的二维过渡金属硫族化合物量子点的精确仿真方法,其特征在于,第三步中求解泊松方程的边界条件为:两个栅极-介电层界面均采用Dirichlet边界条件;对于整个仿真区域上的各点,在沿着垂直于仿真区域的方向上采用Neumann边界条件,所述仿真区域为垂直于二维材料层且经过上栅极内边的平面。

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