[发明专利]自动分析装置

说明书

本发明涉及自动分析装置。课题在于提高液面检测的精度。解决手段在于，实施方式所涉及的自动分析装置具备探针和液面检测机构。液面检测机构与探针电连接，对探针与液面的接触进行检测。液面检测机构包括对用于液面的电路的电容器的静电电容进行调整的调整部。

关联申请的交叉参考：

本申请基于并享受2021年3月16日提交的日本专利申请2021-042301的优先权，该申请的全部内容被引用至本申请中。

技术领域

本发明的实施方式涉及自动分析装置。

背景技术

以往，已知在自动分析装置中对探针与液面的接触进行检测的液面检测电路。该液面检测电路使用被差分输入的信号对液面进行检测。例如，液面检测电路的差分输入之中的一方与探针连接，另一方开路。通过对伴随着探针与液面接触时的阻抗变化而产生的信号的振幅及相位的变化进行检测，从而进行液面检测。进而，在该液面检测电路中有时设置有自动移相电路，该自动移相电路将探针与液面未接触的状态下的被差分输入的信号视为零。该自动移相电路能够使探针与液面未接触的状态下的输出成为零。

但是，上述的自动移相电路虽然能够吸收与探针单体相关的输出偏差，但是没有考虑到与探针一起使用的器材等。这些器材例如对应于在容器的盖上穿孔的穿孔针、对探针中的试剂进行加热的加热器等。如果这些器材与液面检测电路连接，则仅通过自动移相电路有可能无法吸收输出偏差，而引起液面检测的精度下降。

现有技术文献：

日本特开昭63-259420号公报

发明内容

本发明所要解决的课题是提高液面检测的精度。

实施方式所涉及的自动分析装置具备探针和液面检测机构。液面检测机构与探针电连接，对探针与液面的接触进行检测。液面检测机构包括对用于液面的电路的电容器的静电电容进行调整的调整部。

发明的目的在于提高液面检测的精度。

附图说明

图1是例示第1实施方式所涉及的自动分析装置的功能构成的图。

图2是例示图1的分析机构的构成的图。

图3是例示第1实施方式中的液面检测电路的构成的图。

图4是例示第1实施方式中的试样分注探针和穿孔针的图。

图5是例示图4的试样分注探针和穿孔针的动作的图。

图6是例示第1实施方式中的电桥电路、电容调整电路、穿孔针和试样分注探针的连接的图。

图7是例示第2实施方式中的液面检测电路的构成的图。

图8是例示第2实施方式中的第1试剂分注探针和加热器的图。

图9是例示第2实施方式中的电桥电路、电容调整电路、加热罩和第1试剂分注探针的连接的图。

图10是例示第3实施方式中的电桥电路与电容调整电路的连接的图。

图11是例示液面检测电路的构成的现有图。

图12是例示电桥电路与试样分注探针的连接的现有图。

图13是例示图11的自动移相电路的构成的现有图。

附图标记说明