[发明专利]一种芯片可测试设计的确定方法、设备和存储介质

权利要求书

1.一种芯片可测试设计的确定方法，其特征在于，所述方法包括：

获取芯片的初始版本电路对应的寄存器传输级信息；

获取所述芯片的目标版本电路对应的寄存器传输级信息；

根据所述初始版本电路对应的寄存器传输级信息与所述目标版本电路对应的寄存器传输级信息，确定寄存器传输级差异信息组；

根据所述寄存器传输级差异信息组以及所述初始版本电路，确定所述芯片的目标版本电路的可测试设计。

2.根据权利要求1所述的芯片可测试设计的确定方法，其特征在于，所述根据所述寄存器传输级差异信息组，确定所述目标版本电路的可测试设计的步骤包括：

根据所述寄存器传输级差异信息组，修改所述初始版本电路中的扫描寄存器，得到所述目标版本电路中的扫描链模块；

根据预设协议文件以及所述目标版本电路中的扫描链模块，确定目标版本电路的扫描链模块的电路信号；

根据所述目标版本电路中的扫描链模块以及所述目标版本电路的扫描链模块的电路信号，确定所述芯片的目标版本电路的可测试设计。

3.根据权利要求2所述的芯片可测试设计的确定方法，其特征在于，所述目标版本电路的扫描链模块的电路信号包括：

所述目标版本电路的扫描链模块中每条扫描链的时钟信号组、所述目标版本电路的扫描链模块的使能信号以及所述目标版本电路的扫描链模块中新插入的每个扫描寄存器对应的重置信号。

4.根据权利要求3所述的芯片可测试设计的确定方法，其特征在于，目标版本电路的扫描链模块中每条扫描链的时钟信号组的确定方法为：

将所述目标版本电路的扫描链模块中所有扫描链分为若干条子扫描链；

根据预设协议文件，确定芯片的锁存单元存储的电平信息；

根据所述电平信息，确定所述子扫描链对应的时钟信号；

根据所述子扫描链对应的时钟信号，确定所述目标版本电路的扫描链模块中每条扫描链的时钟信号组。

5.根据权利要求3所述的芯片可测试设计的确定方法，其特征在于，所述目标版本电路的扫描链模块中新插入的每个扫描寄存器对应的重置信号的确定方法为：

获取所述目标版本电路的扫描链模块中新插入的每个扫描寄存器对应的寄存器接入的功能重置信号；

将所述功能重置信号引入选择器，得到选择信号；

根据所述选择信号与所述预设协议文件，确定所述目标版本电路的扫描链模块中新插入的每个扫描寄存器对应的重置信号。

6.根据权利要求2所述的芯片可测试设计的确定方法，其特征在于，所述寄存器传输级差异信息组携带有待插入的扫描寄存器信息；

所述根据所述寄存器传输级差异信息组，修改所述初始版本电路中扫描寄存器，得到所述目标版本电路中的扫描链模块的步骤为：

根据所述待插入的扫描寄存器信息，确定待插入的扫描寄存器；

获取所述初始版本电路的扫描链模块中扫描链的数量信息以及触发器信息；

将所述扫描链模块划分为若干个组合逻辑内核；

获取每个所述组合逻辑内核唯一对应的测试向量集；

根据所述测试向量集确定每个所述组合逻辑内核的链周期；

根据所述扫描链的数量信息、所述触发器信息以及每个所述组合逻辑内核的链周期，确定链周期特值；

根据所述链周期特值，确定所述待插入的扫描寄存器的插入位置；

在所述插入位置插入所述待插入的扫描寄存器，得到所述目标版本电路的扫描链模块。