[发明专利]一种芯片可测试设计的确定方法、设备和存储介质

说明书

本申请适用于计算机技术领域，提供了一种芯片可测试设计的确定方法、设备和存储介质，所述方法包括：获取芯片的初始版本电路对应的寄存器传输级信息；获取所述芯片的目标版本电路对应的寄存器传输级信息；根据所述初始版本电路对应的寄存器传输级信息与所述目标版本电路对应的寄存器传输级信息，确定寄存器传输级差异信息组；根据所述寄存器传输级差异信息组以及所述初始版本电路，确定所述芯片的目标版本电路的可测试设计。本申请通过对前后版本电路的寄存器传输级信息的比对获得电路差异，并以之为准自动修改生成目标版本可测试设计，相较于人工更新可测试设计效率与准确率更高，有效降低了芯片版本更新的时间成本、简化了芯片版本更新的操作。

技术领域

本申请属于计算机技术领域，尤其涉及一种芯片可测试设计的确定方法、设备和存储介质。

背景技术

芯片已经成为现代电子设备、尤其是具备计算机功能的电子设备的核心部件，具有无可撼动的绝对核心地位。而在芯片的发展过程中，设计规模的扩大与制程的缩小则是发展浪潮的大趋势。

而随着上述发展趋势的到来，在芯片制造过程中人们发现任何细微的物理损害都可能导致制作出的芯片无法正常工作。因此，芯片制造完成后必须通过严格的错误检验。为了方便检测，工程师会在设计阶段在电路中加入可测试设计，通过在原数字电路中加入或修改逻辑来提高芯片的可测试性，同时不影响芯片原有的功能。

在芯片设计越来越复杂的情况下，为了确保足够高的错误识别率，可测试设计的架构和插入也变得越来越复杂。与此同时，工程师不可避免地会在设计流程的后期发现一些必须修改的初始设计。原始电路的反复改动会导致已经部署好的可测试设计需要反复重新生成和插入，操作繁复且极易拉高时间成本。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种芯片可测试设计的确定方法，旨在解决人工更新可测试设计时操作反复繁杂且时间成本高的问题。

本申请实施例是这样实现的，一种芯片可测试设计的确定方法，所述方法包括：

获取芯片的初始版本电路对应的寄存器传输级信息；

获取所述芯片的目标版本电路对应的寄存器传输级信息；

根据所述初始版本电路对应的寄存器传输级信息与所述目标版本电路对应的寄存器传输级信息，确定寄存器传输级差异信息组；

根据所述寄存器传输级差异信息组以及所述初始版本电路，确定所述芯片的目标版本电路的可测试设计。

本申请实施例的另一目的在于一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行前述目的中所述芯片可测试设计的确定方法的步骤。

本申请实施例的另一目的在于一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行前述目的中所述芯片可测试设计的确定方法的步骤。

本申请实施例提供的一种芯片可测试设计的确定方法，通过对前后版本电路的寄存器传输级信息的比对获得电路差异，并以该差异为标准并以之为准自动修改生成目标版本可测试设计，相较于人工更新可测试设计效率更高、准确率更高，有效降低了芯片版本更新的时间成本、简化了芯片版本更新的操作。

附图说明

图1为本申请实施例提供的一种芯片可测试设计的确定方法的流程图；

图2为本申请另一实施例提供的一种芯片可测试设计的确定方法中步骤S108具体包括的子步骤流程图；

图3为本申请另一实施例提供的一种芯片可测试设计的确定方法中步骤S202具体包括的子步骤流程图；

图4为本申请另一实施例提供的一种芯片可测试设计的确定方法的步骤S110~步骤S114流程图；

图5为本申请实施例提供的用于实施一种芯片可测试设计的确定方法的计算机设备的内部结构图。

具体实施方式