[发明专利]基于随机投影算法的近红外光谱定量分析降维方法及系统在审

专利信息
申请号: 202210385752.9 申请日: 2022-04-13
公开(公告)号: CN114676792A 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 杜文莉;赵云蒙;何仁初;钟伟民;杨明磊 申请(专利权)人: 华东理工大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06F17/16;G01N21/359
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陶玉龙;陆嘉
地址: 200237 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 随机 投影 算法 红外 光谱 定量分析 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于随机投影算法的近红外光谱定量分析降维方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤S1、获取近红外光谱xval及对应的理化性质值yval作为样本集;

步骤S2、将样本集划分为校正集和验证集,根据校正集的近红外光谱xval计算平均光谱xavg

步骤S3、对校正集的近红外光谱xval进行预处理得到光谱矩阵Xval,对校正集的平均光谱xavg进行预处理得到平均光谱矩阵Xavg

步骤S4、基于高斯随机投影算法对校正集的光谱矩阵Xval进行随机降维投影,得到降维后的光谱矩阵XvalRed

步骤S5、基于降维后的光谱矩阵XvalRed,建立人工神经网络预测模型;

步骤S6、采用验证集对步骤S5建立的人工神经网络预测模型进行检验;

步骤S7、基于步骤S6检验后的人工神经网络预测模型,对输入的近红外光谱进行定量分析,输出对应的理化性质预测值。

2.根据权利要求1所述的基于随机投影算法的近红外光谱定量分析降维方法,其特征在于,所述步骤S2中,平均光谱xavg对应的表达式为:

其中,n为近红外光谱个数,xvali为第i个光谱。

3.根据权利要求1所述的基于随机投影算法的近红外光谱定量分析降维方法,其特征在于,所述步骤S2中,将样本集划分为校正集和验证集,进一步包括:

采用基于欧式距离的K-S算法或基于性质变量的SPXY算法,从样本集中选择m个光谱作为校正集,将剩余样本作为验证集。

4.根据权利要求1所述的基于随机投影算法的近红外光谱定量分析降维方法,其特征在于,所述步骤S3中的预处理方式包括:一阶导数、二阶导数和最大最小归一化。

5.根据权利要求1所述的基于随机投影算法的近红外光谱定量分析降维方法,其特征在于,所述步骤S3进一步包括:

对近红外光谱xval同时进行多种预处理,得到光谱矩阵Xval

对平均光谱xavg同时进行多种预处理,得到平均光谱矩阵Xavg

6.根据权利要求1所述的基于随机投影算法的近红外光谱定量分析降维方法,其特征在于,所述步骤S4,进一步包括:

步骤S41、根据平均光谱矩阵Xavg得到高斯随机投影过渡矩阵P;

步骤S42、基于高斯随机投影过渡矩阵P,对光谱矩阵Xval进行随机降维投影,得到降维后的光谱矩阵XvalRed

7.根据权利要求6所述的基于随机投影算法的近红外光谱定量分析降维方法,其特征在于,所述步骤S41,进一步包括:

将p个波长点的平均光谱矩阵Xavg进行随机降维投影,得到q个波长点的降维后的平均光谱矩阵XavgRed

根据表达式XavgRed=P*Xavg,求解高斯随机投影过渡矩阵P。

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