[发明专利]一种叠瓦式硬盘的性能测试方法、装置、设备及产品

说明书

本发明公开了一种叠瓦式硬盘的性能测试方法、装置、设备及产品，涉及存储技术领域，该方法包括：向待测试硬盘下发状态切换命令，并确定所述待测试硬盘根据所述状态切换命令返回的切换完成信息；所述状态切换命令用于将待机械硬盘中所有强制顺序写入区的状态由空的切换至满的；基于已确定的所述切换完成信息，对所述待测试硬盘进行读写测试，并生成所述待测试叠瓦式硬盘的性能测试结果；所述读写测试用于查询并检验待测试硬盘的识别、属性以及功耗模式中的至少一项。本发明提供了一种面向SMR硬盘进行性能测试的方案，在提升了性能测试效率效率的同时确保了数据传输检测的准确性。

技术领域

本发明涉及存储技术领域，具体涉及一种叠瓦式硬盘的性能测试方法、装置、设备及产品。

背景技术

机械硬盘分为水平(横向)式磁记录(Longitudinal Magnetic Recording，LMR)磁盘和垂直式磁记录(Perpendicular Magnetic Recording，PMR)磁盘两种。PMR硬盘能够让硬盘存储更多的数据，大大提升了硬盘的存储量，其中PMR硬盘中的叠瓦式(ShingledMagnetic Recording，SMR)硬盘，可以大幅提高磁盘存储密度，SMR硬盘技术可以有效降低单位容量的磁盘存储成本。

SMR硬盘由于其叠瓦式磁道结构，导致向磁道中写入数据可能会覆盖相邻磁道，机械硬盘的直通(Pass-through)一致性校验能够在很大程度上反映机械硬盘数据传输(读写)时的准确性，从而反映机械硬盘的性能，但是目前其他类型机械硬盘的直通一致性校验由于SMR硬盘的磁道结构无法适用于SMR硬盘。因此适用于SMR叠瓦式硬盘的性能测试方法是目前业界亟待解决的重要课题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种叠瓦式硬盘的性能测试方法、装置、设备及产品，以解决并无适用于SMR硬盘数据传输时准确性校验的问题。

根据第一方面，本发明实施例提供了一种叠瓦式硬盘的性能测试方法，所述方法包括：

向待测试硬盘下发状态切换命令，并确定所述待测试硬盘根据所述状态切换命令返回的切换完成信息；所述状态切换命令用于将待机械硬盘中所有强制顺序写入区的状态由空的切换至满的；

基于已确定的所述切换完成信息，对所述待测试硬盘进行读写测试，并生成所述待测试叠瓦式硬盘的性能测试结果；所述读写测试用于查询并检验待测试硬盘的识别、属性以及功耗模式中的至少一项。

通过采用上述技术方案，本发明通过向待测试硬盘下发状态切换命令，借由状态切换命令将待测试硬盘的每个强制顺序写入区的状态从空的切换为满的，可以避免机械硬盘的容量较大和/或为SMR硬盘时强制顺序写入区状态切换所需的时间过长导致性能测试效率过低，提升了性能测试效率效率，之后，基于待测试硬盘根据状态切换命令返回的切换完成信息，对待测试硬盘进行读写测试，并得到相应的性能测试结果，性能测试结果可以用来表示机械硬盘的识别、属性以及功耗模式上述至少一种参数，因此可以通过性能测试结果反映待测试硬盘能否通过直通一致性校验，反映机械硬盘读写时的准确性，从而反映机械硬盘的性能。本发明的叠瓦式硬盘的性能测试方法提供了一种面向SMR硬盘进行性能测试的方案，在提升了性能测试效率效率的同时确保了数据传输检测的准确性。

结合第一方面，在第一方面第一实施方式中，所述向待测试硬盘下发状态切换命令，并确定所述待测试硬盘根据所述状态切换命令返回的切换完成信息，包括：

向所述待测试硬盘下发第一记录命令，并确定所述待测试硬盘根据所述第一记录命令返回的第一数量信息；所述第一记录命令用于查询并记录所述待测试硬盘包含的状态为空的所述强制顺序写入区的数量，所述第一数量信息用于表征所述第一记录命令记录的所述强制顺序写入区的数量；

基于已确定的所述第一数量信息，向所述待测试硬盘下发区域切换命令；所述区域切换命令用于将所述第一数量信息对应的所述强制顺序写入区的状态由空的切换至满的，