[发明专利]一种计算机键盘使用寿命测试装置

说明书

本发明涉及计算机键盘生产技术领域，特别是一种计算机键盘使用寿命测试装置，其包括，基座，包括有设于基座外呈环状分布的测试架、设于测试架内的驱动座和设于驱动座上方的键盘；以及，下压板，包括有与所述测试架连接的引导组件和设于下压板下方的敲击模块；以及，传动组件，包括有传动盘和设于传动盘外的传动架，且传动架远离传动盘的一端与所述下压板连接，本发明通过驱动座带动计算机键盘整体内、外循环往返平移，而驱动座在位移过程中，还将带动两组下压板进行交替敲击，这既缩短了每次敲击的时间差、提高了测试效率，也延长了测试架的使用寿命。

技术领域

本发明涉及计算机键盘生产技术领域，特别是一种计算机键盘使用寿命测试装置。

背景技术

一款好的计算机键盘需要有较长的使用寿命，一款新的键盘产品研发出来需要对键盘按键进行敲打测试，对按键进行不间断的几十万次的敲击，目前市面上的按键寿命测试仪价格非常昂贵，而且结构复杂，日常维护检修困难，现有的测试方式成本高，难以被广泛接受。

现有测试装置虽然能够采用敲击的方式对按键寿命进行检测，但它仍存在一定弊端，特别是现有的测试装置，虽采用不断敲击的方式，但是每次敲击后至下一次敲击时，敲击件上移至下移需要一定的时间，不便于合理运用敲击的间隔时间，这就使得测试效率较为低下。

发明内容

本部分的目的在于概述本发明的实施例的一些方面以及简要介绍一些较佳实施例。在本部分以及本申请的说明书摘要和发明名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和发明名称的目的模糊，而这种简化或省略不能用于限制本发明的范围。

鉴于上述的问题，提出了本发明。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：一种计算机键盘使用寿命测试装置，其包括，基座，包括有设于基座外呈环状分布的测试架、设于测试架内的驱动座和设于驱动座上的键盘；以及，

下压板，包括有与所述测试架连接的引导组件和设于下压板外的敲击模块；以及，

传动组件，包括有传动盘和设于传动盘外的传动架，且传动架远离传动盘的一端与所述下压板连接。

作为本发明所述计算机键盘使用寿命测试装置的一种优选方案，其中：所述测试架内设有活动栏板，所述活动栏板外设有输出齿条，且活动栏板与驱动座连接，所述测试架内开设有活动通道，且活动通道内设有滑杆。

作为本发明所述计算机键盘使用寿命测试装置的一种优选方案，其中：所述测试架内设有气缸，且气缸的输出端与活动栏板连接，所述活动栏板外设有连接通道，且连接通道与滑杆连接，所述驱动座上分别设有挡板与调节板，且驱动座外开设有调节槽。

作为本发明所述计算机键盘使用寿命测试装置的一种优选方案，其中：所述调节板外设有螺杆，且螺杆贯穿调节槽并设有螺母。

作为本发明所述计算机键盘使用寿命测试装置的一种优选方案，其中：所述引导组件包括有固定筒，且固定筒内滑动设有动杆，所述动杆远离所述固定筒的一端与下压板连接。

作为本发明所述计算机键盘使用寿命测试装置的一种优选方案，其中：所述传动盘的轴心设有第一传动轴，且第一传动轴的一端设有第一传动齿轮，所述测试架内设有第二传动轴，且第二传动轴外分别设有第二传动齿轮和第三传动齿轮，所述第二传动齿轮与第一传动齿轮啮合连接，所述输出齿条与第三传动齿轮啮合连接。

作为本发明所述计算机键盘使用寿命测试装置的一种优选方案，其中：所述测试架内设有轴承支撑座，且轴承支撑座与第一传动轴连接。

作为本发明所述计算机键盘使用寿命测试装置的一种优选方案，其中：所述传动盘内设有转盘，且传动盘内螺接有滑轨，所述转盘外贯穿设有传动滑槽，所述滑轨内设有滑动架，且滑动架外分别设有连接转杆和支撑转杆，所述连接转杆外套设有传动转杆，且传动转杆的外壁与传动滑槽活动连接，所述支撑转杆与传动架连接；