[发明专利]一种纺织品缺陷检测识别装置

说明书

本发明涉及缺陷检测技术领域，具体涉及一种纺织品缺陷检测识别装置。该装置包括：图像采集模块、初步筛选模块、二次增强模块以及缺陷检测模块。通过图像采集模块获取纺织图像的灰度图像；通过初步筛选模块对灰度图像进行对比度增强，获取一次增强图像；将一次增强图像划分为多个相同大小的瓦块，筛选出疑似缺陷瓦块；通过二次增强模块对每个疑似缺陷瓦块中的每个像素点进行对应的像素值替换，得到二次增强图像；通过缺陷检测模块，获取缺陷位置。本发明实施例能够利用光学手段获取可见光图像测试纺织图像中瑕疵、缺陷或者污点的存在，准确检测出缺陷位置，能够应用于新材料检测、计量、相关标准化、认证认可服务。

技术领域

本发明涉及缺陷检测技术领域，具体涉及一种纺织品缺陷检测识别装置。

背景技术

随着科技水平的不断发展，利用光学手段，尤其是可见光获取图像进而分析材料的技术蓬勃发展，但是在于纺织领域来说，更多还是通过人工检验判断纺织品是否有缺陷，直接利用图像对纺织品进行检测时，由于纺织品的部分缺陷与正常点的灰度值差距并不是很大，很容易将缺陷遗漏，造成精度较低，检测结果较差。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明的目的在于提供一种纺织品缺陷检测识别装置，所采用的技术方案具体如下：

本发明一个实施例提供了一种纺织品缺陷检测识别装置，该装置包括以下模块：

图像采集模块，用于采集纺织品的纺织图像，并获取纺织图像的灰度图像；

初步筛选模块，用于对灰度图像进行对比度增强，获取一次增强图像；将一次增强图像划分为多个相同大小的瓦块，选取目标瓦块，分别计算其他每个瓦块与所述目标瓦块的相关性，根据相关性获取目标瓦块的相关瓦块的第一数量，根据第一数量筛选出疑似缺陷瓦块；

二次增强模块，用于对每个疑似缺陷瓦块中的每个像素点，根据其邻域像素点的像素值判断该像素点邻域内是否存在瑕疵点；当存在瑕疵点时，将邻域内的像素值进行最值替换，当不存在瑕疵点时，将邻域内的像素值进行均值替换，组成二次增强图像；

缺陷检测模块，用于利用滑窗遍历所述二次增强图像，根据滑窗移动产生的梯度判断二次增强图像是否存在缺陷，当存在缺陷时，对二次增强图像进行阈值分割，获取缺陷位置。

优选的，所述初步筛选模块包括：

一次增强图像获取单元，用于根据每个像素点与最小像素值的差异，以及最大像素值和最小像素值的差异对灰度图像进行图像拉伸，获取所述一次增强图像。

优选的，所述初步筛选模块还包括：

相关性计算单元，用于根据目标瓦块中每个像素点的像素值与目标瓦块的像素均值的差异，以及其他瓦块中每个像素点的像素值与其像素均值的差异，计算目标瓦块与其他瓦块之间的相关性。

优选的，所述初步筛选模块还包括：

疑似缺陷瓦块筛选单元，用于获取所述第一数量的最大值和最小值，以最大值和最小值的平均值作为筛选阈值，选取第一数量小于筛选阈值的目标瓦块作为所述疑似缺陷瓦块。

优选的，所述二次增强模块包括：

瑕疵点判断单元，用于以每个像素点作为中心点，获取该中心点的邻域像素点的像素值，并获取所有像素值的极差，当极差大于瑕疵阈值时，该像素点的邻域内存在瑕疵点。

优选的，所述二次增强模块还包括：

最值替换单元，用于当中心点的邻域内存在瑕疵点时，将该中心点邻域内所有像素点的像素值分别与邻域内的最大值和最小值做差，以差值更小的最值替换中心点像素值。

优选的，所述二次增强模块还包括：