[发明专利]一种基于频域信息双确认的PCB表面缺陷检测方法

权利要求书

1.一种基于频域信息双确认的PCB表面缺陷检测方法，其特征在于：包括以下步骤：

S1：获取PCB板的基准图像得到PCB基准图像，并转换至灰度空间；

S2：分别提取PCB基准图像傅里叶相位成分和幅值成分；

S3：获取PCB板的待测图像得到PCB待测图像，并转换至灰度空间；

S4：分别提取PCB待测图像傅里叶相位成分和幅值成分；

S5：分别计算归一化后PCB基准图像和PCB待测图像相位成分和幅值成分差；

S6：若同一位置的相位成分差和幅值成分差均大于预设阈值，则判断该位置存在缺陷。

2.根据权利要求1所述的基于频域信息双确认的PCB表面缺陷检测方法，其特征在于，所述的步骤S2和步骤S4中，图像傅里叶相位成分和幅值成分的提取方法，包括以下步骤：

SS1：计算图像的二维傅里叶变换；

SS2：分别提取二维傅里叶变换后的相位信息和幅值信息；

SS3：分别将相位信息和幅值信息反变换至空间域获得傅里叶相位成分和幅值成分。

3.根据权利要求2所述的基于频域信息双确认的PCB表面缺陷检测方法，其特征在于，所述的步骤SS1中，图像二维傅里叶变换的计算方法为：

其中，为生成的二维傅里叶变换，为转换至灰度空间后的图像，M、N分别为输入图像的长和宽尺寸。

4.根据权利要求2所述的基于频域信息双确认的PCB表面缺陷检测方法，其特征在于，所述的步骤SS3中，图像傅里叶相位成分和幅值成分的提取方法为：

其中，为反变换后的相位信息，为反变换后的幅值成分,为傅里叶变换后的相位成分，为傅里叶变换后的幅值成分。

5.根据权利要求1所述的基于频域信息双确认的PCB表面缺陷检测方法，其特征在于，所述的步骤S5中，相位成分和幅值成分差计算方法为：

其中，为归一化后的相位成分差，为归一化后的幅值成分差，表示基准图像，表示待测图像，下标表示图像的相位成分，下标表示图像的幅值成分，符号表示计算函数的绝对值，为基准图像相位成分的最小值，为基准图像相位成分的最大值，为基准图像幅值成分的最小值，为基准图像幅值成分的最大值，为待测图像相位成分的最小值，为待测图像相位成分的最大值，为待测图像幅值成分的最小值，为待测图像幅值成分的最大值。

6.根据权利要求1所述的基于频域信息双确认的PCB表面缺陷检测方法，其特征在于，所述的步骤S6中，缺陷存在与否的判断算法为：

其中，i, j为图像的坐标，为当前像素点异常与否的判断结果，1表示当前像素点存在缺陷，0表示当前像素点为正常状态，为归一化后基准图像和待测图像相位成分差，为预设的相位成分差阈值，归一化后基准图像和待测图像幅值成分差，为预设的幅值成分差阈值。