[发明专利]一种电路板金手指区域缺陷检测方法及系统及装置及介质

权利要求书

1.一种电路板金手指区域缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获得待测电路图像；

识别所述待测电路图像，获得目标区域坐标，根据所述目标区域坐标对所述待测电路图像进行分割，获得金手指区域图像；

对所述金手指区域图像进行处理，获得图像数据；

分析所述图像数据，获得缺陷检测结果。

2.根据权利要求1所述的一种电路板金手指区域缺陷检测方法，其特征在于，所述目标区域坐标采用以下步骤获得：

获得多个电路样本图，对所述电路样本图中金手指区域进行标注，获得第一训练集；

基于所述第一训练集训练第一目标检测框架，获得第一目标检测模型；

使用所述第一目标检测模型对所述待测电路图像进行识别，获得所述目标区域坐标。

3.根据权利要求1所述的一种电路板金手指区域缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述金手指区域图像进行处理前还包括以下步骤：

获得多个电路缺陷样本图，对所述电路缺陷样本图中缺陷位置及类别进行标注，获得第二训练集；

基于所述第二训练集训练第二目标检测框架，获得第二目标检测模型；

所述对所述金手指区域图像进行处理，获得图像数据包括以下步骤：

使用所述第二目标检测模型对所述金手指区域图像进行识别，获得图像识别结果。

4.根据权利要求1所述的一种电路板金手指区域缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述金手指区域图像进行处理包括以下步骤：

对所述金手指区域图像进行二值化处理，获得二值化图像；

对所述二值化图像进行滤波处理获得第一图像；

检测所述第一图像中的连通区域；

计算所述第一图像中各连通区域的面积；

所述分析所述图像数据，获得缺陷检测结果包括以下步骤：

判断所述连通区域面积的大小，若所述连通区域面积小于标准值，则所述金手指区域图像存在缺陷。

5.根据权利要求4所述的一种电路板金手指区域缺陷检测方法，其特征在于，所述滤波处理为对所述二值化图像进行形态学开运算。

6.根据权利要求1所述的一种电路板金手指区域缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述金手指区域图像进行处理包括以下步骤：

对所述金手指区域图像进行灰度化处理，获得灰度图像；

对所述灰度图像进行滤波处理获得第二图像；

计算所述第二图像的灰度平均值，获得第二图像数据；

所述分析所述图像数据，获得缺陷检测结果包括以下步骤：

对比所述第二图像数据与标准图像灰度区间大小，若所述第二图像数据不在所述标准图像灰度区间内，则所述金手指区域图像存在缺陷。

7.根据权利要求6所述的一种电路板金手指区域缺陷检测方法，其特征在于，在蓝色灯光下对待测电路进行拍照，获得所述待测电路图像。

8.根据权利要求6所述的一种电路板金手指区域缺陷检测方法，其特征在于，所述金手指区域图像为RGB图，所述对所述金手指区域图像进行灰度化处理包括以下步骤：

获得所述金手指区域图像像素的R分量和G分量；

对所述R分量和G分量进行加权计算，获得像素灰度值；

根据所述像素灰度值生成灰度图像。

9.根据权利要求2或3所述的一种电路板金手指区域缺陷检测方法，其特征在于，所述目标检测框架为结合FPN结构的Faster-RCNN目标检测框架。

10.一种电路板金手指区域缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括：

图像获得单元，用于获得待测电路图像；

区域识别单元，用于识别所述待测电路图像，获得目标区域坐标，根据所述目标区域坐标对所述待测电路图像进行分割，获得金手指区域图像；

处理单元，用于对所述金手指区域图像进行处理，获得图像数据；

分析单元，用于分析所述图像数据，获得缺陷检测结果。