[发明专利]一种电路板金手指区域缺陷检测方法及系统及装置及介质

说明书

本发明公开了一种电路板金手指区域缺陷检测方法及系统及装置及介质，涉及电子元器件生产领域，在获得待测电路图像后，采用基于深度学习的目标检测框架定位待测电路中金手指图像区域，根据所述金手指图像区域在所述待测电路图像中的坐标对待测电路图像进行分割，获得金手指区域图像，再对所述金手指区域图像进行分析，即可获得印制电路板的缺陷检测结果，能够通过计算机自动检测出印制电路板金手指区域存在的缺陷，避免由人工目检对于特征较为相似的金手指区域进行检测所得到的检测结果不稳定不准确的问题，有较强的实用性。

技术领域

本发明涉及电子元器件生产领域，具体地，涉及一种电路板金手指区域缺陷检测方法及系统及装置及介质。

背景技术

随着电子行业蓬勃发展，电路设计愈加复杂化、细致化，印制电路板作为电子产品电路的主要载体，对其制造工艺的要求也越来越严格。印制电路板生产过程中涉及多道工艺，不同的制程都可能会造成印制电路板板面不同程度的缺损。金手指区域是印制电路板上由多个金黄色的导电触片组成的用于传输信号的区域，因其表面镀金而且导电触片排列如手指状，所以称为“金手指”。在印制电路板中，金手指作为对外连接网络的出口，是影响印制电路板质量的关键区域。目前对于印制电路板的检测工作，通常通过AOI自动光学检测机拍摄图片，再由人工目检对缺陷进行分类完成，但人工目检存在极大的主观性，尤其是对于特征较为相似的金手指区域的检测，人工长时间的工作下会很大程度上影响目检结果，导致检测结果不准确。

发明内容

为了解决现有对印制电路板进行检测时对于特征较为相似的金手指区域的检测，人工长时间的工作下会很大程度上影响目检结果，导致得到的检测结果不稳定不准确的问题，本发明提供了一种金手指区域缺陷检测方法及系统及装置及介质，通过定位印制电路板上的金手指区域，再对定位后得到的图像关键区域进行分析，能够通过计算机自动检测出印制电路板金手指区域存在的缺陷。

为了实现上述发明目的，本发明提供了一种电路板金手指区域缺陷检测方法，包括以下步骤：

获得待测电路图像；

识别所述待测电路图像，获得目标区域坐标，根据所述目标区域坐标对所述待测电路图像进行分割，获得金手指区域图像；

对所述金手指区域图像进行处理，获得图像数据；

分析所述图像数据，获得缺陷检测结果。

其中，本发明的原理为：获得待测电路图像后，计算机对所述待测电路图像进行识别，定位待测电路中金手指图像区域，获得所述金手指图像区域在所述待测电路图像中的坐标，根据所述坐标对待测电路图像进行分割，获得金手指区域图像，再通过一系列图像处理算法对所述金手指区域图像进行分析，获得图像数据，最后通过对所述图像数据进行分析，即可获得印制电路板的缺陷检测结果。

进一步的，为了准确定位电路中金手指区域，采用基于深度学习的目标检测框架实现目标区域坐标的获得，所述待测电路的目标区域坐标获得包括以下步骤：

获得多个电路样本图，对所述电路样本图中金手指区域进行标注，获得第一训练集；

基于所述第一训练集训练第一目标检测框架，获得第一目标检测模型；

使用所述第一目标检测模型对所述待测电路图像进行识别，获得所述目标检测区域坐标。

进一步的，若所述金手指区域存在余铜缺陷，可能导致金手指区域使用时电路短路，从而导致印制电路板质量不达标，对于金手指区域余铜缺陷的识别，采用基于深度学习的目标检测框架实现，因此，所述对所述金手指区域图像进行处理前还包括以下步骤：

获得多个电路缺陷样本图，对所述电路缺陷样本图中缺陷位置及类别进行标注，获得第二训练集；

基于所述第二训练集训练第二目标检测框架，获得第二目标检测模型；