[发明专利]电子装置以及除错模式触发方法

说明书

一种电子装置，可进入除错模式，包括：多个按键，其中该多个按键的版图对应第一按键版图以及第二按键版图其中之一；以及处理电路，若该多个按键其中至少其二被按压以达到预定按键组合，控制该电子装置以进入除错模式；其中该控制电路控制该电子装置来执行对应该第一按键版图的第一测试或控制该电子装置来执行对应该第二按键版图的第二测试，以侦测该电子装置是对应该第一按键版图或该第二按键版图。本发明还提供一种除错模式触发方法。本发明可以自动侦测按键版图，且无论光学鼠标具有哪种按键版图，光学鼠标都可以进入除错模式。

技术领域

本发明有关于电子装置以及除错模式触发方法，特别有关于无论电子装置具有什么按键版图均可触发除错模式的电子装置以及除错模式触发方法。

背景技术

现有的光学鼠标可能需要进入除错模式(debug mode)，在除错模式下，光学鼠标的参数可以由工程师或维护人员进行校准。光学鼠标的按键可以对应各种按键版图(button layout)。然而，工程师或维护人员在校准光学鼠标时很难得到按键版图的相关资讯。因此，光学鼠标可能会进入错误的除错模式，或者由于不知道正确的按键版图而无法进入除错模式。

发明内容

本发明一目的为公开一种电子装置，无论其具有哪种按键版图，光都可以进入除错模式。

本发明一目的为公开一种除错模式触发方法，无论电子装置具有哪种按键版图，光都可以进入除错模式。

本发明一实施例公开了一种电子装置，可进入除错模式，包括：多个按键，其中该多个按键的版图对应第一按键版图以及第二按键版图其中之一；以及处理电路，若该多个按键其中至少其二被按压以达到预定按键组合，控制该电子装置以进入除错模式；其中该控制电路控制该电子装置来执行对应该第一按键版图的第一测试或控制该电子装置来执行对应该第二按键版图的第二测试，以侦测该电子装置是对应该第一按键版图或该第二按键版图。

本发明另一实施例公开了一种除错模式触发方法，使用在包括多个按键的电子装置，包括：(a)判断是否该多个按键其中至少其二被按压以达到预定按键组合，其中该多个按键的版图对应第一按键版图以及第二按键版图其中之一；(b)若该多个按键其中至少其二被按压以达到该预定按键组合，控制该电子装置以进入除错模式；以及(c)控制该电子装置来执行对应该第一按键版图的第一测试或控制该电子装置来执行对应该第二按键版图的第二测试，以侦测该电子装置是对应该第一按键版图或该第二按键版图。

根据上述实施例，可以自动侦测按键版图，且无论光学鼠标具有哪种按键版图，光学鼠标都可以进入除错模式。

附图说明

图1绘示了根据本发明实施例的光学鼠标的示意图。

图2以及图3绘示了根据本发明实施例的按键版图的两个例子。

图4以及图5绘示了根据本发明实施例的，如何触发光学鼠标的除错模式的示意图。

图6绘示了根据本发明实施例的除错触发方法的流程图。

其中，附图标记说明如下：

100 光学鼠标

101 处理电路

200，300 按键版图

B1，B2，B3，B4，B5 按键

Ba,Bb,Bc,Bd,Be,Bf,Bg,Bh,Bi,Bj,Bk,Bl 开关

Pa,Pb,Pc,Pd,Pe,Pf,Pg 引脚

Ra,Rb,Rc,Rd,Re,Rf,Rg 电阻

R0,R1,R2,R3 读取点

T1,T2,T3 端点

具体实施方式