[发明专利]自动测试系统的测试程序集参数化设计方法、系统及介质在审

专利信息
申请号: 202210614717.X 申请日: 2022-06-01
公开(公告)号: CN115114145A 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 肖勇;周阳明;陈维波;李乐;刘潇龙 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十研究所
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 王会改
地址: 610000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 自动 测试 系统 程序 参数 设计 方法 介质
【权利要求书】:

1.一种自动测试系统的测试程序集参数化设计方法,其特征在于,包括:

将测试程序集相关内容封装形成类;

将设计所述测试程序集所需的接口函数封装为类的方法;

根据各所述类的方法,实现设计所述测试程序集所需数据的参数化。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将测试程序集相关内容封装形成类中:

所述相关内容包括被测单元状态的控制、测试仪器参数设置、工装状态的控制、测试数据的处理。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述工装状态的控制包括矩阵路由、总线板卡、低频开关、数字IO口。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据各所述类的方法,实现设计所述测试程序集所需数据的参数化,包括:

提取各类的方法,并形成方法列表;

在方法列表的基础上,提取对应方法的变量与默认参数值,并形成列表;

实体化各类,创建测试程序集设计所需的对象;

根据设计的测试程序集,将所述测试程序集设计所需数据参数化。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据设计的测试程序集,将所述测试程序集设计所需数据参数化,包括:

设计测试程序集,确定当前调用的对象,从该对象的方法列表中选择适用的方法,然后确定该方法的参数值。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据设计的测试程序集,将所述测试程序集设计所需数据参数化,还包括:

设计测试程序集,根据调取所述测试程序集设计所需的方法,按照该方法默认参数值的数据类型,将默认参数值变更为设计测试程序集所需的值,从而确定该方法的实际内容。

7.一种自动测试系统的测试程序集参数化设计系统,其特征在于,包括:

内容封装模块,用于将测试程序集相关内容封装形成类;

函数封装模块,用于将设计所述测试程序集所需的接口函数封装为类的方法;

参数化模块,用于根据各所述类的方法,实现设计所述测试程序集所需数据的参数化。

8.一种计算机可读存储介质,其特征在于,用于存储计算机程序,其中,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的自动测试系统的测试程序集参数化设计方法。

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