[发明专利]自动测试系统的测试程序集参数化设计方法、系统及介质在审
申请号: | 202210614717.X | 申请日: | 2022-06-01 |
公开(公告)号: | CN115114145A | 公开(公告)日: | 2022-09-27 |
发明(设计)人: | 肖勇;周阳明;陈维波;李乐;刘潇龙 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十研究所 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 王会改 |
地址: | 610000 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 测试 系统 程序 参数 设计 方法 介质 | ||
1.一种自动测试系统的测试程序集参数化设计方法,其特征在于,包括:
将测试程序集相关内容封装形成类;
将设计所述测试程序集所需的接口函数封装为类的方法;
根据各所述类的方法,实现设计所述测试程序集所需数据的参数化。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将测试程序集相关内容封装形成类中:
所述相关内容包括被测单元状态的控制、测试仪器参数设置、工装状态的控制、测试数据的处理。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述工装状态的控制包括矩阵路由、总线板卡、低频开关、数字IO口。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据各所述类的方法,实现设计所述测试程序集所需数据的参数化,包括:
提取各类的方法,并形成方法列表;
在方法列表的基础上,提取对应方法的变量与默认参数值,并形成列表;
实体化各类,创建测试程序集设计所需的对象;
根据设计的测试程序集,将所述测试程序集设计所需数据参数化。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据设计的测试程序集,将所述测试程序集设计所需数据参数化,包括:
设计测试程序集,确定当前调用的对象,从该对象的方法列表中选择适用的方法,然后确定该方法的参数值。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据设计的测试程序集,将所述测试程序集设计所需数据参数化,还包括:
设计测试程序集,根据调取所述测试程序集设计所需的方法,按照该方法默认参数值的数据类型,将默认参数值变更为设计测试程序集所需的值,从而确定该方法的实际内容。
7.一种自动测试系统的测试程序集参数化设计系统,其特征在于,包括:
内容封装模块,用于将测试程序集相关内容封装形成类;
函数封装模块,用于将设计所述测试程序集所需的接口函数封装为类的方法;
参数化模块,用于根据各所述类的方法,实现设计所述测试程序集所需数据的参数化。
8.一种计算机可读存储介质,其特征在于,用于存储计算机程序,其中,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的自动测试系统的测试程序集参数化设计方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十研究所,未经中国电子科技集团公司第十研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210614717.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:无栈协程的实现方法、装置、设备及存储介质
- 下一篇:可拉伸屏组件及滑移终端