[发明专利]一种高精度测试装置

说明书

本发明旨在提供一种设计合理、适应能力强、测试精度高且适用于小微型产品测试的高精度测试装置。本发明包括下压模组（1）、探针卡调节模组（2）、探针卡模组（3）、载具模组（4）和顶升模组（5），所述探针卡调节模组（2）设置在所述下压模组（1）的动作端，所述探针卡模组（3）设置在所述探针卡调节模组（2）的动作端，所述载具模组（4）设置在所述顶升模组（5）的动作端的上方且位于所述探针卡模组（3）的下方。本发明可应用于产品测试的技术领域。

技术领域

本发明涉及产品测试的技术领域，特别涉及一种高精度测试装置。

背景技术

在传统的PCBA测试行业中，通常采用抽屉式测试设备进行导通测试，这类测试设备的定位方式通常采用定位销实现，并且在测试时需要进行压紧才能实现测试。这类设备的结构原理是：设置载具放置产品，载具一般是通过气缸驱动移动至测试位置，而测试位置的上方设置有可以升降的压板组件，该压板组件上会装有压住产品的压块，在载具的下方设置有针板模组，用于信号引出；测试时，载具进到测试位置，压板组件在气缸的带动下会下压，下压至与载具接触后会将其一起继续下压，直至载具上的产品和探针及信号转接模组接触以达到测试目的。

但是，在面对精度要求越来越高的测试行业中，传统的测试设备普遍存在以下问题，难以满足高精度测试需求：

1、对于Pad（连接触点）的测试采用传统的单头针、或者双头针、琴线针、精度稍微再高点会采用弹片针，但是这些测试接口只适用于大小为0.4mmX0.4mm 的Pad，无法对尺寸更小的Pad进行测试，适用性较差；

2、市面上的测试设备对于产品的固定通常是一边定位或者利用定位销定位，然后由压板的压块压紧固定，或者是在载板上面增加压臂，使用压臂固定，再者是采用翻盖压制固定等等，这些固定方式都比较占用空间，不适用于微小芯片的高精度的测试；

3、市面上产品和测试接口的对接定位方式采用的是定位销和对位导套的方式，或者以外形定位的方式，定位精度比较差，对接效果不好，影响测试效果。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种设计合理、适应能力强、测试精度高且适用于小微型产品测试的高精度测试装置。

本发明所采用的技术方案是：本发明包括下压模组、探针卡调节模组、探针卡模组、载具模组和顶升模组，所述探针卡调节模组设置在所述下压模组的动作端，所述探针卡模组设置在所述探针卡调节模组的动作端，所述载具模组设置在所述顶升模组的动作端的上方且位于所述探针卡模组的下方。

进一步，所述探针卡模组包括PCBA、悬臂探针卡和若干个信号转接口，所述PCBA设置在所述探针卡调节模组的动作端，所述悬臂探针卡和若干个所述信号转接口分别设置在所述PCBA的下端两侧。

进一步，所述载具模组包括载具基板、载具浮动板、产品载具和若干个真空接口，所述载具浮动板浮动设置在所述载具基板上，所述载具浮动板上开设有载具定位槽，所述产品载具设置在所述载具定位槽内，所述载具定位槽内设有与所述真空接口连通的真空气道，所述真空气道与开设在所述产品载具上的产品槽配合。

进一步，所述下压模组包括安装竖座、Z轴直线模组和下压座，所述安装竖座竖直设置，所述Z轴直线模组设置在所述安装竖座的侧面，所述下压座固定在所述Z轴直线模组的动作端。

进一步，所述探针卡调节模组包括工业相机、UVW对位平台和调节座，所述工业相机设置在所述下压座上，所述UVW对位平台设置在所述下压座的下端且位于所述工业相机的下方，所述调节座设置在所述UVW对位平台的动作端，所述探针卡模组设置在所述调节座的下端，所述UVW对位平台和所述调节座上均设有与所述工业相机配合的拍摄口。