[发明专利]一种双穿通结构同时触发的低电容SCR结构在审

专利信息
申请号: 202210649430.0 申请日: 2022-06-09
公开(公告)号: CN115346977A 公开(公告)日: 2022-11-15
发明(设计)人: 刘继芝;薛文辉 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 双穿通 结构 同时 触发 电容 scr
【权利要求书】:

1.一种用于ESD保护的穿通结构触发的低电容SCR器件,其特征在于,包括:

所述SCR器件结构包括:P型硅衬底100,在P型硅衬底上形成N型阱区101和P型阱区201;在N型阱区101内由左至右形成N型重掺杂有源区103和P型重掺杂有源区102;在P阱区201内由左至右形成N型重掺杂有源区202和P型重掺杂有源区203。其中,300为STI结构。其中由P型重掺杂有源区102、N型阱区101以及P型衬底100、P型阱区201、P型重掺杂有源区203形成的PNP三极管,由N型有源区103、N型阱区101、P型衬底100、P型阱区201以及N型重掺杂有源区202形成的NPN三极管,两个三极管都可以发生穿通来实现穿通触发。

在该结构中,N阱区101内的P型重掺杂有源区102和N型重掺杂有源区103与器件的阳极相连;P型阱区201内的N型重掺杂有源区202和P型重掺杂有源区203与器件的阴极相连。

2.一种用于ESD保护的双穿通结构同时触发的低电容SCR器件,其特征在于,包括:

所述SCR器件结构包括:P型硅衬底100,在P型硅衬底上形成N型阱区101,在N型阱区201内有P型重掺杂有源区102;在P型硅衬底上形成P型阱区201,在P型阱区201内由左至右形成N型重掺杂有源区202和P型重掺杂有源区203。其中,300为STI结构。其中由P型重掺杂有源区102、N型阱区101以及P型衬底100、P型阱区201、P型重掺杂有源区203形成的PNP三极管,由N型阱区101、P型衬底100、P型阱区201以及N型重掺杂有源区202形成的NPN三极管,两个三极管同时发生穿通来实现双穿通。

在该结构中,N型阱区101内的P型重掺杂有源区102与器件的阳极相连;P型阱区201内的N型重掺杂有源区202和P型重掺杂有源区203与器件的阴极相连。

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