[发明专利]一种双源混检式通道式安检系统及其控制方法有效

专利信息
申请号: 202210673238.5 申请日: 2022-06-15
公开(公告)号: CN114755734B 公开(公告)日: 2023-03-03
发明(设计)人: 雷铭;孟辰;雷方舟;丁宏毅;马晓晨 申请(专利权)人: 天津速通科技有限公司
主分类号: G01V5/00 分类号: G01V5/00;G01N23/20;G01N23/203;G01N23/04
代理公司: 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 代理人: 刘玲
地址: 300384 天津市滨海新区华苑产业*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 双源混检式 通道 安检 系统 及其 控制 方法
【说明书】:

发明涉及一种双源混检式通道式安检系统及其控制方法,包括双源安检机、检测后台和显示终端,双源安检机包括由物品传输方向依次设置的背散射系统和透射系统,背散射系统所对应的区域为低能量背散射区域,透射系统所对应的区域为高能量透射,双源安检机通过无线连接检测后台,用于将双源安检机检测的背散射图像和透射图像传输至检测后台,检测后台通过无线连接显示终端,用于将融合处理后的图像传输显示终端进行显示。本发明结合了背散射成像以及透射成像技术,达到安检的所能达到的最高检测性能,保障安检的正确性,降低了安全事故的发生。

技术领域

本发明属于安检技术领域,尤其是一种双源混检式通道式安检系统及其控制方法。

背景技术

现有的安检系统中,大多数采用的是背散射安检机,同时少部分使用透射安检机,对于背散射安检机,其背散射噪声来源分为三部分:

①X射线是由高速电子流轰击靶机产生的,而电子发射是随机的,每个电子从阴极到阳极都将会对整个X射线辐射产产生一点影响。当这个过程大量发生时构成一个随机过程,形成量子涨落,从而导致产生的X射线光子数量的涨落,这种涨落称作量子噪声,属于散粒噪声。X射线量子噪声依泊松分布的统计学法则随机产生的空间波动,噪声量与探测器探测到的射线量负相关,相应的与射线源强度负相关,即入射射线的剂量越大,X射线量子噪声越小。

②散射探测器将散射光子转换成电信号的过程引入的噪声,散射探测器设备应用了闪烁体和光电倍增管,闪烁体将射线转化为可见光,可见光照射到光电倍增管的光阴极产生光电效应,光电子产生复合的统计特性会引发散粒噪声,光电效应使光生载流子的数量起伏变化,统计服从泊松分布。

当光电倍增管处于完全黑暗的情况下(即阴极无入射光时),电子仍然由于各种原因从阴极发射出来,产生的暗电流由倍增系统放大,从而建立了可直接探测的最小光强极限。对大部光阴极来说,很大部分暗电流属于热离子发射的,冷却光电倍增管可以有效降低热暗电流成分,另外暗电流大小近似正比于光阴极面积。暗电流属于虚假的直流电流,其波动范围不大,因此在处理过程视为某个定值。

光电倍增管工作过程还存在其他噪声,如倍增管内放射性引起的噪声,宇宙射线引起的随机脉冲,阴极和各个打拿极的热发射和漏电流,外壳材料的荧光、残余气体的离化等。工作电压较高时热发射是次要的,低电压时漏电流是主要的。

③系统中电路部分引入的噪声,在电路系统中,光电导与电阻性元器件都会产生热噪声,同时半导体器件在有电流通过时会产生低频噪声。

而透射安检机能够更加精确的检测部分背散射安检机无法检测的物体,将二者检测的图片进行结合,能够达到安检的最高检测性能,保障安检的正确性。因此如何将二者进行结合,成为安检领域的一大难题。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足,提出一种双源混检式通道式安检系统及其控制方法,结合了背散射成像以及透射成像技术,达到安检的所能达到的最高检测性能,保障安检的正确性,降低了安全事故的发生。

本发明解决其技术问题是采取以下技术方案实现的:

一种双源混检式通道式安检系统,包括双源安检机、检测后台和显示终端,所述双源安检机通过无线连接检测后台,用于将双源安检机检测的图像传输至检测后台,检测后台通过无线连接显示终端,用于将处理后的图像传输显示终端进行显示。

而且,所述双源安检机包括外壳、传送带和内部X光检测部分,其中传送带入料端对应外壳的顶部安装摄像头,传送带出料端对应外壳的顶部安装摄像头,入料端摄像头和出料端摄像头分别连接传送带和检测后台,用于检测是否有物品放置在传送带上,X光检测部分连接检测后台用于传输X光检测图像,传送带还包括速度控制器,用于调节传送带的运行速度。

而且,所述内部X光检测部分包括由物品传输方向依次设置的背散射系统和透射系统,背散射系统所对应的区域为低能量背散射区域,透射系统所对应的区域为高能量透射。

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