[发明专利]一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：当待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树；将标准硬件描述树读入软件程序，利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树；基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试。通过本发明的技术方案，能够在芯片测试过程使芯片测试软件对不同版本的芯片进行兼容，提高了芯片测试的效率。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

芯片测试是确保系统芯片功能正常、性能稳定的重要手段。从芯片开始设计到量产，都需要对芯片进行测试。芯片测试在芯片设计阶段可以帮助验证芯片的基本功能，在量产阶段可以实现芯片出厂前的测试。

由于在芯片设计阶段设计方案会经过多次迭代，每一次本版的迭代，都可能产生子系统寄存器基地址的修改，现有技术中通常需要开发人员在每次本版更新后对测试代码中的寄存器地址做相应的修改，不但耗费了测试成本还降低了芯片测试的效率。同时，为了保证芯片测试程序本身的质量，需要在不同的芯片模拟平台对诊断测试代码做回归测试，然而，在芯片软件模拟平台上由于是虚拟环境，所有的硬件资源都是完备的，而在芯片硬件模拟平台上由于硬件资源有限，只能实例化出部分的硬件资源，使得芯片测试软件无法对不同芯片模拟平台进行兼容，现有技术中通常需要开发人员在各自的代码库中处理测试平台的兼容性问题，使得芯片测试的效率降低。因此，如何在芯片测试过程中使得芯片测试软件对不同的芯片模拟平台，以及不同版本的芯片进行兼容，提高芯片测试的效率，是目前亟待解决的问题。

发明内容

本发明提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，可以解决芯片测试软件对不同的芯片模拟平台和不同版本的芯片兼容性较低，以及芯片测试效率较低的问题。

根据本发明的一方面，提供了一种芯片测试方法，包括：

当待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树；

将标准硬件描述树读入软件程序，利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树；

基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试。

根据本发明的另一方面，提供了一种芯片测试装置，其特征在于，包括：

描述树获取模块，用于当待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树；

描述树处理模块，用于将标准硬件描述树读入软件程序，利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树；

芯片测试模块，用于基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试。

根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的芯片测试方法。

根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的芯片测试方法。