[发明专利]一种基于二次压缩的测试向量压缩方法及系统

说明书

本发明公开了一种基于二次压缩的测试向量压缩方法及系统，包括：获取待压缩的第一测试向量集；对所述第一测试向量集中的测试向量进行重新排序，以获取第二测试向量集；基于所述第二测试向量集进行差分压缩，获取初始压缩矩阵；对所述初始压缩矩阵进行奇异值分解压缩，获取最终压缩矩阵。本发明通过充分利用功能测试时，测试向量间差异性较小的特点，采用差分压缩和奇异值分解压缩相结合的技术，可将数据规模降低1‑2个数量级，极大地减小数据存储需求，有助于降低测试成本，提高测试效率；同时本发明算法资源占用小，分析速度快，具备实用化条件。

技术领域

本发明涉及数据处理技术领域，并且更具体地，涉及一种基于二次压缩的测试向量压缩方法及系统。

背景技术

随着半导体技术的发展，集成电路的规模和复杂度也在不断增长，使得集成电路测试技术的重要性日益凸显。在芯片设计、生产的每一环节，结合适当的测试，可极大地节约成本，加快芯片投产进度。

然而，集成电路规模和复杂度的不断增长，使得其测试难度也随之水涨船高，在进行功能测试时，配套的测试向量数据量快速膨胀。由此带来两方面的问题：一是测试向量规模的不断增加，带来对自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)存储空间的需求不断增加，ATE设备淘汰加速，测试成本居高不下；二是测试速度一定程度上取决于数据传输速度，测试向量规模的增大，使得数据传输速率也需相应加快，以尽可能减少测试向量加载时间，这进一步推高了测试成本，降低了测试效率。

功能测试的基本思想是对组合逻辑电路真值进行枚举以判断电路能否产生正确响应。功能测试的上述特点，一方面导致其测试向量规模庞大，另一方面也决定了其测试向量间必然具有较高的相似度，具备大幅压缩的空间。

有鉴于此，有必要提出一种测试向量的压缩方法。

发明内容

本发明提出一种基于二次压缩的测试向量压缩方法及系统，以解决如何对测试向量进行压缩的问题。

为了解决上述问题，根据本发明的一个方面，提供了一种基于二次压缩的测试向量压缩方法，所述方法包括：

获取待压缩的第一测试向量集；

对所述第一测试向量集中的测试向量进行重新排序，以获取第二测试向量集；

基于所述第二测试向量集进行差分压缩，获取初始压缩矩阵；

对所述初始压缩矩阵进行奇异值分解压缩，获取最终压缩矩阵。

优选地，其中所述对所述第一测试向量集中的测试向量进行重新排序，以获取第二测试向量集，包括：

随机选取所述第一测试向量集中的任一个测试向量作为起始向量；

计算所述起始向量与所述第一测试向量集中任一测试向量间的曼哈顿距离；

基于所述曼哈顿距离对所述第一测试向量集中的测试向量进行排序，并根据排序结果确定第二测试向量集。

优选地，其中所述基于所述第二测试向量集进行差分压缩，获取初始压缩矩阵，包括：

对于所述第二测试向量集，分别以起始向量减去后继向量进行差分压缩操作，获取初始压缩矩阵。

优选地，其中所述对所述初始压缩矩阵进行奇异值分解压缩，获取最终压缩矩阵，包括：

利用如下公式对所述初始压缩矩阵进行奇异值分解，获取奇异值矩阵和中间矩阵，包括：

J_(m-1)×n＝U_(m-1)×(m-1)∑_(m-1)×n V_n×n，