[发明专利]烹饪设备的调试方法、调试装置、处理器与调试系统

说明书

本申请提供了一种烹饪设备的调试方法、调试装置、处理器与调试系统，该调试方法包括：生成步骤，根据获取的烹饪设备的目标烹饪模式和预设参数，生成第一控制指令；发送步骤，将第一控制指令发送至控制器，以使得控制器控制被测器件执行第一控制指令；确定步骤，至少根据控制器发送的执行结果信息，确定被测器件的实时温度和第二控制指令；重复步骤，重复发送步骤和确定步骤，直到烹饪设备的当前运行时长达到目标运行时长或者接收到停止调试指令，并根据多个实时温度，确定被测器件的实时温度曲线，在实时温度曲线与目标温度曲线不匹配的情况下，调整预设参数，从而解决了现有技术中对烹饪设备的调试现场搭建以及调试参数设置较为繁琐的问题。

技术领域

本申请涉及调测领域，具体而言，涉及一种烹饪设备的调试方法、调试装置、处理器与调试系统。

背景技术

在对如蒸烤箱一类的烹饪设备的开发过程中，由于受到结构设计、温度环境、烹饪食材、产品设计材料选型、以及控制器的控制算法等各种因素的影响，导致开发过程中的每一个环节的更改，都会涉及到结构设计与材料摸底、性能效果、软件控制方法以及效果确认等的调试。

在实际的开发过程中，若某一个开发环节出现问题，均需围绕该开发环节的设计目的，进行单独的调试。但由于人员与软硬件平台的不统一，较为容易地导致调试与判定的结论都不一致。也就是说，在对烹饪设备的开发的过程中，并没有统一且可靠的管理与调试手段，从而导致烹饪设备的开发周期长、性能不稳定、一致性差以及循环实验可操作难度大等影响。

在背景技术部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的背景技术的理解，因此，背景技术中可能包含某些信息，这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种烹饪设备的调试方法、调试装置、处理器与调试系统，以解决现有技术中对烹饪设备的调试现场搭建以及调试参数设置较为繁琐的问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种烹饪设备的调试方法，所述烹饪设备包括被测器件，包括：生成步骤，根据获取的所述烹饪设备的目标烹饪模式和预设参数，生成第一控制指令，其中，所述预设参数为所述被测器件的用于调整目标功能的调试参数，所述第一控制指令用于控制所述被测器件执行所述目标功能；发送步骤，将所述第一控制指令发送至控制器，以使得所述控制器控制所述被测器件执行所述第一控制指令；确定步骤，至少根据所述控制器发送的执行结果信息，确定所述被测器件的实时温度，并至少根据所述实时温度，确定所述烹饪设备的第二控制指令；重复步骤，重复所述发送步骤和所述确定步骤，直到所述烹饪设备的当前运行时长达到目标运行时长或者接收到停止调试指令，并根据多个实时温度，确定所述被测器件的实时温度曲线，在所述实时温度曲线与目标温度曲线不匹配的情况下，调整所述预设参数。

可选地，所述执行结果信息包括所述被测器件的目标分辨率，至少根据所述控制器发送的执行结果信息，确定所述被测器件的实时温度，包括：采用公式Rt＝[Vcc-(ADC/1024)×Vcc]÷R，计算所述被测器件的电阻值，其中，Rt为所述电阻值，Vcc为所述烹饪设备的供电电压，ADC为所述目标分辨率，R为所述烹饪设备的分压电阻的电阻值；根据所述电阻值和预设对应关系，确定所述被测器件的所述实时温度，所述预设对应关系为所述被测器件的所述电阻值与所述实时温度的对应关系。

可选地，所述第二控制指令包括停止加热指令和升温控制指令，至少根据所述实时温度，确定所述烹饪设备的第二控制指令，包括：根据所述烹饪设备的所述目标烹饪模式，确定与所述目标烹饪模式对应的目标温度；在所述实时温度大于或者等于所述目标温度的情况下，确定所述第二控制指令为所述停止加热指令；在所述实时温度小于所述目标温度的情况下，确定所述第二控制指令为所述升温控制指令。