[发明专利]一种荧光X射线快速测定氧化铁粉杂质元素的方法在审
| 申请号： | 202210922661.4 | 申请日： | 2022-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN115343322A | 公开（公告）日： | 2022-11-15 |
| 发明（设计）人： | 王玉慧;李兴华;杜秀珍;郭洪涛;艾兵权;赵晶;陈波;刘剑峰;周文 | 申请（专利权）人： | 唐山钢铁集团有限责任公司;河钢乐亭钢铁有限公司;河钢股份有限公司唐山分公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 13108 | 代理人： | 赵幸 |
| 地址： | 063000 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 射线 快速 测定 氧化 铁粉 杂质 元素 方法 | ||
1.一种荧光X射线快速测定氧化铁粉杂质元素的方法，其特征在于：包括以下步骤：
（1）以硼酸和微晶纤维素的混合物作为粘结剂与氧化铁粉按一定重量比混合均匀，然后进行压片；
（2）采用荧光X射线光谱法建立不同元素的标准曲线；
（3）根据步骤（2）建立的标准曲线，利用荧光X射线光谱法测定氧化铁粉中各杂质元素的含量。
2.根据权利要求1所述的一种荧光X射线快速测定氧化铁粉杂质元素的方法，其特征在于：步骤（1）所述粘结剂由硼酸与微晶纤维素按重量比3∶1～6∶1混合而成。
3.根据权利要求1所述的一种荧光X射线快速测定氧化铁粉杂质元素的方法，其特征在于：步骤（1）所述粘结剂与氧化铁粉混合时重量比为1∶4～1∶8。
4.根据权利要求1所述的一种荧光X射线快速测定氧化铁粉杂质元素的方法，其特征在于：步骤（1）所述压片，压制力为15 MPa～20MPa，压制时间40s～90s。
5.根据权利要求1所述的一种荧光X射线快速测定氧化铁粉杂质元素的方法，其特征在于：所述步骤（2）可选用定值后的自制样品建立标准曲线。
6.根据权利要求5所述的一种荧光X射线快速测定氧化铁粉杂质元素的方法，其特征在于：选用自制样品SiO2、CaO、Al2O3、MnO、P2O5、Na2O、SO3建立标准曲线时利用ICP对其进行定值；Cl-利用自动电位滴定法进行定值。
7.根据权利要求6所述的一种荧光X射线快速测定氧化铁粉杂质元素的方法，其特征在于：对于自制样品SiO2，采用单标样添加硼酸的方式进行稀释，制备成不同含量梯度的标准样品，从而建立SiO2标准曲线。
8.根据权利要求1所述的一种荧光X射线快速测定氧化铁粉杂质元素的方法，其特征在于：该方法检测的氧化铁粉末平均粒径20um及以下。
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