[发明专利]一种显示屏位置偏差测量方法及系统有效
申请号: | 202211059868.X | 申请日: | 2022-08-31 |
公开(公告)号: | CN115144164B | 公开(公告)日: | 2023-02-28 |
发明(设计)人: | 王雷;李渊;邓忠光;欧昌东;郑增强 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01B11/00;G01B11/26 |
代理公司: | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人: | 方可 |
地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示屏 位置 偏差 测量方法 系统 | ||
本发明公开了一种显示屏位置偏差测量方法及系统,属于成像产品位置检测技术领域,包括调整待测产品与光学测量设备的中心位置,获取待测产品在光学测量设备成像区域内的视野边界,获得其在第一方向上的角度偏差,分别获取成像点位在光学测量设备成像区域内第二方向和第三方向上的像面角度偏差并据此获得待测产品显示屏在第二方向和第三方向上的角度偏差。本申请通过光学测量设备的成像区域获取显示屏在第一方向上的角度偏差,并利用对焦镜头调整对焦,获得该显示屏在第二方向和第三方向上的角度偏差,整个测试方法相对简单,无需配合较多检测设备,仅通过在二维屏幕上的感知,即可获得显示屏在三维角度内的偏转位移。
技术领域
本发明属于成像产品位置检测技术领域,具体涉及一种显示屏位置偏差测量方法及系统。
背景技术
目前显示面板已经广泛应用于人们生活的各种场景中,成为人们生活中必不可少的一部分。随着市面上显示器类型的越来越多样化,微显示器也逐渐进入到人们的视野,如可穿戴设备VR和AR等。
随着微显示器的逐渐应用,其产品的制造也随之增多。在微显示器的制造过程中,需要对微显示器产品进行组装,其涉及到微显示屏与其他部件的配合组装,当微显示屏与其他部件存在安装位置偏差时,会导致产品不合格的问题,而现有的人眼检测方式在微显示屏检测领域无法满足需求,且容易造成检测误差,导致微显示器不合格的问题。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求中的一种或者多种,本发明提供了一种显示屏位置偏差测量方法,用以解决现有检测方式无法满足微显示屏位置偏差检测需求的问题。
为实现上述目的,本发明提供一种显示屏位置偏差测量方法,其通过光学测量设备测量待测产品与待测产品显示屏的位置偏差,其包括如下步骤:
对待测产品与光学测量设备进行对位;
获取待测产品在光学测量设备成像区域内成像的视野边界,获取待测产品显示屏在第一方向上的角度偏差;
获取待测产品在光学测量设备成像区域内的成像点位信息,分别对成像点位进行对焦,获取成像点位在光学测量设备成像区域内第二方向和第三方向上的像面角度偏差;
根据成像点位在光学测量设备成像区域内的第二方向和第三方向上的像面角度偏差获得待测产品显示屏在第二方向和第三方向上的角度偏差;其中第一方向、第二方向和第三方向两两互相垂直。
作为本发明的进一步改进,待测产品在第一方向上的角度偏差获取方式为:
获取待测产品显示屏在光学测量设备成像区域内成像的视野边界,获取光学测量设备成像区域视野边界,对比待测产品显示屏在光学测量设备成像区域内视野边界与光学测量设备成像区域视野边界的角度偏差,即为待测产品显示屏在第一方向上的角度偏差。
作为本发明的进一步改进,待测产品成像在光学测量设备成像区域内第二方向上的像面位角度偏差获取方式为:
获取待测产品成像的其中两个点位信息,分别对两点位进行对焦,获取两点位对焦的后焦距变化量;
获取两点位在第二方向上的成像高度差;
根据两点位的后焦距变化量和第二方向上的成像高度差获取待测产品成像在光学测量设备成像区域内第二方向上的像面角度偏差。
作为本发明的进一步改进,待测产品显示屏在第二方向上的角度偏差获取方式为:
获取两点位的中心点位,对中心点位在光学测量设备上的成型进行对焦,获取对焦后对焦镜头分别与待测产品上中心点位和光学测量设备上成像中心点位的距离;
根据待测产品成像在光学测量设备成像区域内第二方向上的像面角度偏差、对焦镜头与待测产品上中心点位距离、对焦镜头与光学测量设备上成像中心点位的距离计算得到待测产品显示屏在第二方向上的角度偏差。
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