[发明专利]基于测量轴与同轴度评定轴基准统一的同轴度测量方法及系统在审

专利信息
申请号: 202211107414.5 申请日: 2022-09-13
公开(公告)号: CN115422501A 公开(公告)日: 2022-12-02
发明(设计)人: 刘永猛;栗瑞瑞;孙传智;谭久彬 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G06F17/16 分类号: G06F17/16;G01B21/24
代理公司: 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 代理人: 陈晶
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 基于 测量 同轴 评定 基准 统一 测量方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于测量轴与同轴度评定轴基准统一的同轴度测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤S1,建立测量坐标系和评定坐标系,在所述测量坐标系下测量标准器的两端圆心位置;

步骤S2,根据所述两端圆心位置求解所述评定坐标系与所述测量坐标系之间的旋转矩阵;

步骤S3,在所述测量坐标系下测量第j个测量截面圆心位置,根据所述旋转矩阵求解所述评定坐标系下标准器第j个测量截面偏心,其中,j为正整数;以及

步骤S4,迭代执行步骤S3测量多个测量截面偏心进行标准器同轴度评定。

2.根据权利要求1所述的基于测量轴与同轴度评定轴基准统一的同轴度测量方法,其特征在于,所述测量坐标系以标准器下端面圆心O1为圆心,以转台0°为x轴,以转台回转轴为z轴,所述评定坐标系以标准器下端面圆心O1为圆心,以O1和O2连线为z轴,其中,O2为所述测量坐标系的上端圆心。

3.根据权利要求1所述的基于测量轴与同轴度评定轴基准统一的同轴度测量方法,其特征在于,所述步骤S2具体包括:

步骤S201,根据所述两端圆心位置,确定圆心O2在所述测量坐标系下的第一位置向量,以及圆心O2在所述评定坐标系下的第二位置向量;

步骤S202,根据所述第一位置向量和所述第二位置向量评定轴方向向量;

步骤S203,根据所述轴方向向量确定单位向量,根据所述单位向量、所述第一位置向量和所述第二位置向量求解旋转矩阵。

4.根据权利要求1所述的基于测量轴与同轴度评定轴基准统一的同轴度测量方法,其特征在于,所述步骤S3具体包括:

步骤S301,根据所述旋转矩阵设所述测量坐标系下标准器第j个测量截面几何形心Ojc(xjc,yjc,zjc)在所述评定坐标系下表示为Oje(xje,yje,zje);

步骤S302,根据所述Oje(xje,yje,zje)求解所述评定坐标系下标准器第j个测量截面偏心。

5.一种基于测量轴与同轴度评定轴基准统一的同轴度测量系统,其特征在于,包括:

构建坐标系模块,用于建立测量坐标系和评定坐标系,在所述测量坐标系下测量标准器的两端圆心位置;

求解旋转矩阵模块,用于根据所述两端圆心位置求解所述评定坐标系与所述测量坐标系之间的旋转矩阵;

求解测量截面偏心模块,用于在所述测量坐标系下测量第j个测量截面圆心位置,根据所述旋转矩阵求解所述评定坐标系下标准器第j个测量截面偏心;以及

同轴度评定模块,用于迭代执行所述求解测量截面偏心模块测量多个测量截面偏心进行标准器同轴度评定。

6.根据权利要求5所述的基于测量轴与同轴度评定轴基准统一的同轴度测量系统,其特征在于,所述测量坐标系以标准器下端面圆心O1为圆心,以转台0°为x轴,以转台回转轴为z轴,所述评定坐标系以标准器下端面圆心O1为圆心,以O1和O2连线为z轴,其中,O2为所述测量坐标系的上端圆心。

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