[发明专利]多块NVME SSD高低温测试方法及系统

权利要求书

1.一种多块NVME SSD高低温测试方法，其特征在于，

应用于多块NVME SSD高低温测试装置中，所述多块NVME SSD高低温测试装置包括：

上位机，采用Windows系统，用于控制Chamber进行高低温的变化，下发测试脚本，获取NVME SSD测试项目，分类上传结果到QMS系统；

下位机，采用Linux系统，所述下位机的PCIE插槽上链接PCIE Switch及PCIE Switch治具，所述PCIE Switch治具的插槽用于插接NVME SSD进行测试；

其中，所述上位机与所述下位机通信连接，用于发送测试脚本到下位机；

所述多块NVME SSD高低温测试方法包括以下步骤：

通过上位机获取NVME SSD测试项目；

控制执行NVME SSD和系统链路连接测试操作，获取连接测试结果；

当NVME SSD和系统链路连接测试通过后，控制通过下位机治具的插槽插接NVME SSD并执行NVME SSD测试项目，获取NVME SSD测试结果，并进行成功和失败测试结果分类，显示失败原因。

2.如权利要求1所述的多块NVME SSD高低温测试方法，其特征在于，所述通过上位机获取NVME SSD测试项目的步骤，具体包括以下步骤：

获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试。

3.如权利要求2所述的多块NVME SSD高低温测试方法，其特征在于，所述获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试的步骤，具体包括以下步骤：

控制上位机程序启动，读取上位机测试项配置信息；

比对上位机测试项配置信息和预设测试项配置结果，获取比对结果；

当比对结果为上位机测试项配置信息和预设测试项配置结果匹配时，判定测试项配置信息准备好，当测试项配置信息准备好时，控制上位机获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试。

4.如权利要求1所述的多块NVME SSD高低温测试方法，其特征在于，所述控制执行NVMESSD和系统链路连接测试操作，获取连接测试结果的步骤，具体包括以下步骤：

控制获取NVME SSD对应于下位机上的串口并进行初始化；

控制获取NVME SSD对应于下位机上的串口执行掉电上电测试操作。

5.如权利要求4所述的多块NVME SSD高低温测试方法，其特征在于，所述控制获取NVMESSD对应于下位机上的串口执行掉电上电测试操作的步骤，具体包括以下步骤：

控制获取NVME SSD对应于下位机上的串口初始化对应治具上串口的版本信息；

枚举PCIE Switch治具的插槽上的NVME SSD；

控制依次对多个NVME SSD进行移除掉电并等待第一预设时间操作；

控制依次对多个NVME SSD进行上电并等待第二预设时间操作。

6.如权利要求1所述的多块NVME SSD高低温测试方法，其特征在于，所述所述控制执行NVME SSD和系统链路连接测试操作，获取连接测试结果的步骤之后，还包括以下步骤：

控制从PCIE Switch治具的插槽上依次移除NVME SSD，并对PCIE Switch治具的插槽进行扫描。

7.如权利要求1所述的多块NVME SSD高低温测试方法，其特征在于，所述当NVME SSD和系统链路连接测试通过后，控制通过下位机治具的插槽插接NVME SSD并执行NVME SSD测试项目，获取NVME SSD测试结果，并进行成功和失败测试结果分类，显示失败原因的步骤之后，还包括以下步骤：

控制发送NVME SSD测试结果到上位机及QMS系统。