[发明专利]高度差的测量方法、装置、终端及可读存储介质

权利要求书

1.一种用于待加工零件中的平面区域之间高度差的测量方法，所述待加工零件中的外表面包含有平面区域A和平面区域B，且平面区域A和B不位于同一平面内，且平面区域A与预设平面的夹角小于预设阈值，且平面区域B与预设平面的夹角小于预设阈值，其中，预设阈值0；其特征在于，包括以下步骤：

获取所述外表面的点云数据，从所述点云数据中匹配出平面区域A对应的多个第一点、以及平面区域B对应的多个第二点；

基于至少三个第一点拟合出第一平面α，生成若干第二点与第一平面α之间的距离的均值D1；基于至少三个第二点拟合出第二平面β，生成若干第一点与第二平面β之间的距离的均值D2；平面区域A和B在预设平面的垂线上的高度差为(D1+D2)/2。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述“获取所述外表面的点云数据”具体包括：

获取所述外表面的点云数据，并对所述点云数据进行滤波处理。

3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，

所述“基于至少三个第一点拟合出第一平面α”具体包括：基于最小二乘法，将至少三个第一点拟合出第一平面α；

所述“基于至少三个第二点拟合出第二平面β”具体包括：基于最小二乘法，将至少三个第二点拟合出第二平面β。

4.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述“从所述点云数据中匹配出平面区域A对应的多个第一点、以及平面区域B对应的多个第二点”具体包括：

基于平面区域A的若干特征点，从所述点云数据中匹配出平面区域A对应的多个第一点；

基于平面区域B的若干特征点，从所述点云数据中匹配出平面区域B对应的多个第二点。

5.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述“获取所述外表面的点云数据，从所述点云数据中匹配出平面区域A对应的多个第一点、以及平面区域B对应的多个第二点”具体包括：

获取所述外表面的点云数据，从所述点云数据中匹配出平面区域A对应的多个第一点、以及平面区域B对应的多个第二点；对所述点云数据进行水平校正处理，使得平面区域A平行于所述预设平面。

6.根据权利要求5所述的测量方法，其特征在于，所述“对所述点云数据进行水平校正处理，使得平面区域A平行于所述预设平面”具体包括：

从平面区域A中的至少三个第一点拟合出第三平面，获取第三平面的法向量n0，以及所述预设平面的法向量n1；

基于法向量n0，法向量n1和坐标(0,0,0)创建一个旋转平面，所述旋转平面的法向量为k；

生成法向量n0和法向量n1之间的夹角θ；

利用罗德里格斯公式求出旋转矩阵T，在使用罗德里格斯公式时，转轴向量为k和旋转角度为θ，基于所述旋转矩阵T对所述点云数据进行旋转处理。

7.根据权利要求6所述的测量方法，其特征在于：

所述预设平面为XOY平面。

8.一种用于待加工零件中的平面区域之间高度差的测量装置，所述待加工零件中的外表面包含有平面区域A和平面区域B，且平面区域A和B不位于同一平面内，且平面区域A与预设平面的夹角小于预设阈值，且平面区域B与预设平面的夹角小于预设阈值，其中，预设阈值0；其特征在于，包括以下模块：

信息获取模块，用于获取所述外表面的点云数据，从所述点云数据中匹配出平面区域A对应的多个第一点、以及平面区域B对应的多个第二点；

处理模块，用于基于至少三个第一点拟合出第一平面α，生成若干第二点与第一平面α之间的距离的均值D1；基于至少三个第二点拟合出第二平面β，生成若干第一点与第二平面β之间的距离的均值D2；平面区域A和B在预设平面的垂线上的高度差为(D1+D2)/2。

9.一种终端，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的测量方法的步骤。

10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的测量方法的步骤。