[发明专利]高度差的测量方法、装置、终端及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202211332965.1 申请日: 2022-10-28
公开(公告)号: CN115479545A 公开(公告)日: 2022-12-16
发明(设计)人: 时伟生;屈国超;金鳞;蒋玉斌 申请(专利权)人: 博众精工科技股份有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 代理人: 陈如建
地址: 215299 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 高度 测量方法 装置 终端 可读 存储 介质
【说明书】:

发明公开了一种高度差的测量方法、装置、终端及可读存储介质,该测量方法包括:获取所述外表面的点云数据,从所述点云数据中匹配出平面区域A对应的多个第一点、以及平面区域B对应的多个第二点;基于至少三个第一点拟合出第一平面α,生成若干第二点与第一平面α之间的距离的均值D1;基于至少三个第二点拟合出第二平面β,生成若干第一点与第二平面β之间的距离的均值D2;平面区域A和B在预设平面的垂线上的高度差为(D1+D2)/2。从而能够测量平面区域A和B之间的距离。

技术领域

本发明涉及零件加工技术领域,尤其涉及一种平面区域之间高度差的测量方法、装置、终端及可读存储介质。

背景技术

图1示出了一个典型的对待加工零件2进行加工的情形,其中,加工载具1的加工面为一平面,在平面上放置有待加工零件2,代加工零件2的外表面包含有平面区域A和平面区域B,在加工过程中,加工治具会对平面区域A和平面区域B均进行加工,且最终使得平面区域A和平面区域B相互平行,且平面区域A和平面区域B之间的距离为一个预设值。

可以理解的是,在实际加工的过程中,由于加工误差的存在,使得平面区域A和平面区域B不是相互平行,在此情形下,如何确定平面区域A和平面区域B的距离,就成为一个亟待解决的问题。

发明内容

有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种平面区域之间高度差的测量方法、装置、终端及可读存储介质。

为达到上述目的,本发明的技术方案是这样实现的:一种用于待加工零件中的平面区域之间高度差的测量方法,所述待加工零件中的外表面包含有平面区域A和平面区域B,且平面区域A和B不位于同一平面内,且平面区域A与预设平面的夹角小于预设阈值,且平面区域B与预设平面的夹角小于预设阈值,其中,预设阈值0;包括以下步骤:获取所述外表面的点云数据,从所述点云数据中匹配出平面区域A对应的多个第一点、以及平面区域B对应的多个第二点;基于至少三个第一点拟合出第一平面α,生成若干第二点与第一平面α之间的距离的均值D1;基于至少三个第二点拟合出第二平面β,生成若干第一点与第二平面β之间的距离的均值D2;平面区域A和B在预设平面的垂线上的高度差为(D1+D2)/2。

作为本发明实施例的一种改进,所述“获取所述外表面的点云数据”具体包括:获取所述外表面的点云数据,并对所述点云数据进行滤波处理。

作为本发明实施例的一种改进,所述“基于至少三个第一点拟合出第一平面α”具体包括:基于最小二乘法,将至少三个第一点拟合出第一平面α;所述“基于至少三个第二点拟合出第二平面β”具体包括:基于最小二乘法,将至少三个第二点拟合出第二平面β。

作为本发明实施例的一种改进,所述“从所述点云数据中匹配出平面区域A对应的多个第一点、以及平面区域B对应的多个第二点”具体包括:基于平面区域A的若干特征点,从所述点云数据中匹配出平面区域A对应的多个第一点;基于平面区域B的若干特征点,从所述点云数据中匹配出平面区域B对应的多个第二点。

作为本发明实施例的一种改进,所述“获取所述外表面的点云数据,从所述点云数据中匹配出平面区域A对应的多个第一点、以及平面区域B对应的多个第二点”具体包括:获取所述外表面的点云数据,从所述点云数据中匹配出平面区域A对应的多个第一点、以及平面区域B对应的多个第二点;对所述点云数据进行水平校正处理,使得平面区域A平行于所述预设平面。

作为本发明实施例的一种改进,所述“对所述点云数据进行水平校正处理,使得平面区域A平行于所述预设平面”具体包括:从平面区域A中的至少三个第一点拟合出第三平面,获取第三平面的法向量n0,以及所述预设平面的法向量n1;基于法向量n0,法向量n1和坐标(0,0,0)创建一个旋转平面,所述旋转平面的法向量为k;生成法向量n0和法向量n1之间的夹角θ;利用罗德里格斯公式求出旋转矩阵T,在使用罗德里格斯公式时,转轴向量为k和旋转角度为θ,基于所述旋转矩阵T对所述点云数据进行旋转处理。

作为本发明实施例的一种改进,所述预设平面为XOY平面。

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