[发明专利]设备热缺陷防治系统、方法、装置、设备及可读存储介质在审
申请号: | 202211465967.8 | 申请日: | 2022-11-22 |
公开(公告)号: | CN115754543A | 公开(公告)日: | 2023-03-07 |
发明(设计)人: | 金虎;彭在兴;王帅兵;陈佳莉;易林;张帅;张杰 | 申请(专利权)人: | 南方电网科学研究院有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01K11/00;G01H9/00;G08B21/18 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 张茵 |
地址: | 510663 广东省广州市萝岗区科*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 设备 缺陷 防治 系统 方法 装置 可读 存储 介质 | ||
1.一种设备热缺陷防治方法,其特征在于,包括:
获取目标电气设备的激光信号;
将所述激光信号进行调制,得到所述目标电气设备的脉冲光信号;
将所述目标电气设备的脉冲光信号与敷设于所述目标电气设备表面的传感光纤的入射脉冲光信号一起进行耦合处理,得到所述目标电气设备的背向散射光信号;
对所述目标电气设备的背向散射光信号进行检测,得到所述目标电气设备的温度信号以及所述目标电气设备在敷设于所述目标电气设备表面的传感光纤中的振动信号;
依据所述目标电气设备在敷设于所述目标电气设备表面的传感光纤中的振动信号,构建所述目标电气设备的光纤声场与放电和过热缺陷关系模型;
依据所述目标电气设备的温度信号,构建所述目标电气设备的温度时空分布特征与放电和过热缺陷关系模型。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,该方法还包括:
利用所述目标电气设备的光纤声场与放电和过热缺陷关系模型以及所述目标电气设备的温度时空分布特征与放电和过热缺陷关系模型,分析所述目标电气设备的热缺陷状态;
依据所述目标电气设备的热缺陷状态,分析所述目标电气设备的故障位置及故障类型;
依据所述目标电气设备的故障位置,发出告警信号。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,该方法还包括:
依据所述告警信号,制定与所述目标电气设备的故障匹配的设备热缺陷防治方案。
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,所述利用所述目标电气设备的光纤声场与放电和过热缺陷关系模型以及所述目标电气设备的温度时空分布特征与放电和过热缺陷关系模型,分析所述目标电气设备的热缺陷状态,包括:
依据所述目标电气设备的光纤声场与放电和过热缺陷关系模型以及所述目标电气设备的温度时空分布特征与放电和过热缺陷关系模型,确定所述目标电气设备的温度分布情况;
依据所述目标电气设备的温度分布情况,判断所述目标电气设备的温度是否超过预设的阈值;
若所述目标电气设备的温度超过所述预设的阈值,则确定所述目标电气设备的热缺陷状态为存在热缺陷故障;
若所述目标电气设备的温度未超过所述预设的阈值,则确定所述目标电气设备的热缺陷状态为不存在热缺陷故障。
5.一种设备热缺陷防治装置,其特征在于,应用于权利要求1-4任一项所述的方法,该装置包括:激光器、调制器、耦合器、传感光纤以及检测单元;
其中,
所述传感光纤敷设于目标电气设备的表面;
所述激光器用于获取模拟所述目标电气设备的激光信号;
所述调制器用于将所述激光器产生的所述目标电气设备的激光信号转换成所述目标电气设备的脉冲光信号并传入所述耦合器;
所述传感光纤用于将入射脉冲光信号传入所述耦合器;
所述耦合器用于将所述调制器传入的所述目标电气设备的脉冲光信号以及所述传感光纤传入的入射脉冲光信号进行耦合处理,得到所述目标电气设备的背向散射光信号并传输给所述检测单元;
所述检测单元用于将所述目标电气设备的背向散射光信号进行检测,得到所述目标电气设备在光纤中的振动信号和温度信号。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,该装置还包括:
电气设备状态确定单元,用于利用所述目标电气设备的光纤声场与放电和过热缺陷关系模型以及所述目标电气设备的温度时空分布特征与放电和过热缺陷关系模型,分析所述目标电气设备的热缺陷状态;
故障确定单元,用于依据所述目标电气设备的热缺陷状态,分析所述目标电气设备的故障位置及故障类型;
告警单元,用于依据所述目标电气设备的故障位置,发出告警信号。
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