[发明专利]粒子通道的堵孔识别方法、系统及装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种粒子通道的堵孔识别方法，其特征在于，所述方法包括：

当所述粒子通道没有粒子通过时，获取当前温度下所述粒子通道的辅助介质的本底电压数据；

根据所述本底电压数据以及预设粒子形态阈值，确定当前温度下的目标粒子形态阈值，所述预设粒子形态阈值用于反映常温下所述粒子通道堵孔时，所述粒子通道的粒子形态特征的临界值，所述粒子形态特征与所述粒子通道的的电压数据有关；

当所述粒子通道有粒子通过时，确定当前温度下所述粒子通道的目标粒子形态特征；

根据所述目标粒子形态特征以及所述目标粒子形态阈值，确定所述粒子通道的堵孔识别结果。

2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述根据所述本底电压数据以及预设粒子形态阈值，确定当前温度下的目标粒子形态阈值，包括：

将当前温度下的本底电压数据输入预设的温度补偿算法，确定当前温度下的粒子形态误差；

利用所述粒子形态误差、预设粒子形态阈值以及预设的形态阈值补偿算法，确定当前温度下的目标粒子形态阈值。

3.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述确定当前温度下所述粒子通道的目标粒子形态特征，包括

获取当前温度下预设采样周期内粒子通过所述粒子通道产生的第一电压脉冲信号；

确定所述第一电压脉冲信号的第一峰值，所述峰值用于反映当前温度下所述电压脉冲信号对应的粒子的粒子体积；

利用所述第一峰值进行直方图分布统计，确定当前温度下所述粒子通道的目标粒子平均体积，所述目标粒子形态特征包括所述目标粒子平均体积。

4.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述根据所述目标粒子形态特征以及所述目标粒子形态阈值，确定所述粒子通道的堵孔识别结果，包括：

当所述目标粒子形态特征大于等于所述目标粒子形态阈值，则确定所述粒子通道的堵孔识别结果为堵孔；

当所述目标粒子形态特征小于所述目标粒子形态阈值，则确定所述粒子通道的堵孔识别结果为未堵孔。

5.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述粒子通道处于堵孔状态时，统计常温下不同类型的粒子在预设采样周期内通过所述粒子通道时产生的若干第二电压脉冲信号；

确定所述第二电压脉冲信号的第二峰值；

利用所述第二峰值进行直方图分布统计，确定常温下堵孔时所述粒子通道的第一粒子平均体积；

在所述粒子通道处于未堵孔状态时，统计常温下不同类型的粒子在预设采样周期内通过所述粒子通道时产生的若干第三电压脉冲信号；

确定所述第三电压脉冲信号的第三峰值；

利用所述第三峰值进行直方图分布统计，确定常温下未堵孔时所述粒子通道的第二粒子平均体积；

根据所述第一粒子平均体积以及所述第二粒子平均体积确定常温下的所述预设粒子形态阈值。

6.一种粒子通道的堵孔识别系统，其特征在于，所述粒子通道的堵孔识别系统用于执行如权利要求1-5中任一项所述方法的步骤，所述粒子通道的堵孔识别系统至少包括所述粒子通道、容器以及辅助介质，所述粒子通道以及所述辅助介质均放置于所述容器中。

7.根据权利要求6所述堵孔识别系统，其特征在于，所述状态确定系统还包括光电转换装置，所述光电转换装置包括光源发生装置以及信号转换装置，所述光源发生装置用于发出光信号，且所述光信号经过所述容器、粒子通道以及辅助介质之后进入所述信号转换装置，所述信号装换装置用于接收所述光信号，并将所述光信号装换为电信号，所述电信号用于指示所述本底电压数据。